電容可靠性測試項目

上海天梯檢測技術有限公司是從事工業(yè)與消費產品測試,檢驗與驗證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗機構。實驗室已取得中國合格評定國家認可委員會實驗室認可證書（CNAS ）實驗室依照國際標準ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》管理和運行,具備向社會出具公正性檢測報告的資格。 可靠性試驗，是指通過試驗測定和驗證產品的可靠性。為了測定、驗證或提高產品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，它是產品可靠性工作的一個重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產品達到預定的可靠性指標。為了使產品能達到預定的可靠性指標，在研制階段需要對樣品進行可靠性試驗，以便找出產品在原材料、結構、工藝、環(huán)境適應性等方面所存在的問題，而加以改進，經過反復試驗與改進，就能不斷地提高產品的各項可靠性指標，達到預定的要求。可靠性測試工作是產品生產過程中不可或缺的。電容可靠性測試項目

上海天梯檢測，輸入低壓點循環(huán)測試 一次電源模塊的輸入欠壓點保護的設置回差，往往發(fā)生以下情況：輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點關斷，帶載時欠壓，斷后，由于電源內阻原因，負載卸掉后電壓將上升，可能造成一次電源模塊處于在低壓時反復開發(fā)的狀態(tài)。 電源模塊帶滿載運行，輸入電壓從（輸入欠壓點－3V）到（輸入欠壓點＋3V）緩慢變化，時間設置為5～8分鐘，反復循環(huán)運行，電源模塊應能正常穩(wěn)定工作，連續(xù)運行較少0.5小時，電源模塊性能無明顯變化。電路板可靠性測試有哪些可靠性測試中的應力極限一般是由產品的制造者或使用者來規(guī)定的。

電子產品器件密度不斷提高，從第1代電子管產品到第二代晶體管，中小規(guī)模集成電路已經進入大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。電子產品正朝著小型化、小型化的方向發(fā)展。結果，器件的密度不斷增大，使得器件內部溫度升高，散熱條件惡化。電子元器件的可靠性會隨著環(huán)境溫度的升高而降低，因此電子元器件的可靠性問題備受關注?？煽啃詼y試已被列為檢驗和試驗產品的重要質量指標。長期以來，人們只把產品的技術性能指標作為衡量電子元器件質量的標志，只反映了產品質量的一個方面，也不能反映產品質量的全局。因為如果產品不可靠，即使其技術性能好，也無法發(fā)揮作用。從某種意義上說，可靠性測試可以多方面反映產品的質量。

上海天梯檢測技術有限公司較新檢測項目及標準 15、IP防護等級（外殼防護試驗）： 外殼防護等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗： 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗： 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 在產品的整個生命周期當中，都離不開可靠性測試。

對產品而言，可靠性測試結果越高就越好?？煽啃愿叩漠a品，可以長時間正常工作（這正是所有消費者需要得到的），一般來說，研發(fā)和生產成本會較高，但是后期維護費用較少；可靠性低的產品，一般來說，研發(fā)和生產成本會較低，但是后期維護費用較高。從專業(yè)術語上來說，就是產品的可靠性越高，產品可以無故障工作的時間就越長。產品實際使用的可靠性叫做工作可靠性。工作可靠性又可分為固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性是產品設計制造者必須確立的可靠性，即按照可靠性規(guī)劃，從原材料和零部件的選用，經過設計、制造、測試，直到產品出產的各個階段所確立的可靠性。如果忽略了可靠性強化測試，那么產品的質量就無法得到保障。電容可靠性測試項目

為什么要做可靠性試驗？電容可靠性測試項目

反復短路測試 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應能實現(xiàn)保護或回縮，反復多次短路，故障排除后，模塊應該能自動恢復正常運行。 A、空載到短路：在輸入電壓全范圍內，將模塊從空載到短路，模塊應能正常實現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應能恢復正常工作。讓模塊反復從空載到短路不斷的工作，短路時間為1s，放開時間為1s，持續(xù)時間為2小時。這以后，短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。 B、滿載到短路：在輸入電壓全范圍內，將模塊從滿載到短路，模塊應能正常實現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應能恢復正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時。然后短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。 C、短路開機：將模塊的輸出先短路，再上市電，再模塊的輸入電壓范圍內上電，模塊應能實現(xiàn)正常的限流或回縮，短路故障排除后，模塊應能恢復正常工作，重復上述試驗10次后，讓短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。電容可靠性測試項目

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