ICT測(cè)試儀器廠家報(bào)價(jià)

ICT測(cè)試儀的測(cè)試針保養(yǎng)：對(duì)測(cè)試針采用防塵套許多冶具廠提供防塵套以用來預(yù)防空污物掉落在測(cè)試針頭與針管上。特別是空置或未使用的冶具。在真空的冶具里，灰塵會(huì)沉落在測(cè)試板的周圍而當(dāng)使用真空儀時(shí)會(huì)直接吸入不求上進(jìn)測(cè)試針中。污漬清潔：不建議用溶劑清潔測(cè)試針或使用溶劑浸泡來進(jìn)行污漬清潔。因?yàn)槿軇┛赡軙?huì)洗去及攜帶微粒進(jìn)入測(cè)試針管和侵害測(cè)試針內(nèi)壁的接觸面，不將會(huì)引起阻抗的過速上升。保持測(cè)試針在清潔的狀態(tài)下是有效的方法來大地減低失敗率。ICT測(cè)試治具與FCT測(cè)試治具都是電子產(chǎn)品制造設(shè)備都使用在產(chǎn)品生產(chǎn)線上。ICT測(cè)試儀器廠家報(bào)價(jià)

ICT測(cè)試治具的作用很多使用范圍也很普遍，它早在在工業(yè)時(shí)代前就已被普遍使用。ICT測(cè)試治具對(duì)產(chǎn)品的檢測(cè)有什么作用呢?作用一是品質(zhì)的保障：因ICT是全檢的機(jī)器，所有元件都受到嚴(yán)格控制，很大提升品質(zhì)。作用二是降低生產(chǎn)成本：減少維修人員與目視人員的數(shù)量，降低技術(shù)要求，材料與資源的節(jié)省，很大降低生產(chǎn)成本。作用三是提高企業(yè)形象：產(chǎn)品品質(zhì)的提升，提高企業(yè)形象，業(yè)績(jī)量大增。作用四是效率的提升：ICT它能夠在短短幾秒內(nèi)測(cè)出整塊電路板的好壞，并告知您它壞在哪個(gè)區(qū)域及哪個(gè)零件，快速解決生產(chǎn)制成問題，并促使產(chǎn)品產(chǎn)量提升。北京在線測(cè)試治具ICT主要是指信息和通信技術(shù)，是電信服務(wù)、信息服務(wù)、IT服務(wù)及應(yīng)用的有機(jī)結(jié)合。

ICT技術(shù)：增加ICT測(cè)試點(diǎn)，并定義測(cè)試點(diǎn)載荷（力或者位移）。簡(jiǎn)單的測(cè)試點(diǎn)可以根據(jù)坐標(biāo)系手動(dòng)一個(gè)一個(gè)加入，如果測(cè)試點(diǎn)非常多，可以通過文件導(dǎo)入的形式輸入。求解并查看結(jié)果，評(píng)估由于過應(yīng)力導(dǎo)致的風(fēng)險(xiǎn)組件。在分析結(jié)果基礎(chǔ)上，提出改進(jìn)措施。例如，通過改變測(cè)試點(diǎn)位置，減少測(cè)試點(diǎn)載荷/位移，增加或移動(dòng)板支撐，填充灌封膠等方法在Sherlock軟件里對(duì)電路板設(shè)計(jì)進(jìn)行快速迭代設(shè)計(jì)，以期達(dá)到產(chǎn)品測(cè)試合格的目標(biāo)。軟件分別通過移動(dòng)高風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域的組件U27到合適的位置（10年內(nèi)失效率大于20%）、增加約束條件（10年內(nèi)失效率約為5%，達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)）、填充灌封膠（失效率非常低，達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)）的方法來降低產(chǎn)品的失效率。

ICT測(cè)試原理：1）電阻測(cè)試：電阻是測(cè)試其阻值。其工作原理很簡(jiǎn)單，就是在電阻的測(cè)試針上加一個(gè)電流，然后測(cè)試這個(gè)電阻兩端的電壓，利用歐姆定律：R=U/I算出該電阻的阻值。2)電容測(cè)試：測(cè)試電容是測(cè)量其容量。小電容的測(cè)試方法與電阻類似，不過是用交流信號(hào)，利用XC=U/I同時(shí)，XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是測(cè)試頻率，U、I是測(cè)試信號(hào)的電壓和電流有效值。大容量的電容測(cè)試用DC方法，即用直流電壓加在電容兩端，充電流隨時(shí)間或指數(shù)減少的規(guī)律，在測(cè)試時(shí)加一定的延時(shí)時(shí)間就可測(cè)出其容量。ICT測(cè)試點(diǎn)的要求有測(cè)試點(diǎn)不能被遮擋、覆蓋，焊盤中心距離器件外框至少120mil。

ICT測(cè)試治具是ICT測(cè)試儀的一種針床，在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中首先道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測(cè)試治具測(cè)試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。ICT測(cè)試治具的制做原理就是，根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中的網(wǎng)絡(luò)（NET）就是PCB走線，全部引出來，達(dá)到外部來用儀器測(cè)試其內(nèi)部是電路結(jié)構(gòu)是否正確的目的。鉆孔ICT測(cè)試治具：是一種可借由移動(dòng)模具以導(dǎo)引麻花鉆孔設(shè)備或其他鉆孔裝置到每個(gè)洞的準(zhǔn)確中心位置。蘇州ICT測(cè)試儀器供應(yīng)商

ict設(shè)備的功能有能夠前期找出制程不良所在。ICT測(cè)試儀器廠家報(bào)價(jià)

導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因:開路不良（常由探針接觸不良所致）開路不良只針對(duì)某一短路群而言，例如：短路群：<1，4，10，12>，ICT測(cè)試冶具測(cè)試出1，10開路不良，表示PCB上測(cè)試點(diǎn)1與測(cè)試點(diǎn)10之間電阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用萬(wàn)用表在PCB上的測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行驗(yàn)證；可能原因：1）測(cè)試針壞掉，或針型與待測(cè)板上的測(cè)試點(diǎn)不適合；2）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；3）某一元器件漏裝、焊接不良、錯(cuò)件等；4）繼電器、開關(guān)或變阻器的位置有變化；5）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。ICT測(cè)試儀器廠家報(bào)價(jià)

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