專譜ProSp角分辨光譜測量系統(tǒng)是一種高性能的測量設(shè)備,具有以下特點(diǎn)和功能:全角度測量能力:ProSp-RTM-UV/VIS系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)接收端0-360°,發(fā)射端0-270°的全角度測量。高角度分辨率:系統(tǒng)提供高達(dá)0.01°的角度分辨率,確保測量結(jié)果的精確性。全光譜測量范圍:光譜范圍覆蓋250-2500nm,配備高性能的海洋光學(xué)光纖光譜儀。多種測量模式:系統(tǒng)支持上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種測量模式。自動(dòng)測量模式:通過軟件設(shè)置,如測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時(shí)間等,實(shí)現(xiàn)不同模式的自動(dòng)測量,無需人為干預(yù)。專譜鎢燈光源在紫外區(qū)域的增強(qiáng)能力,使得光纖傳感器能夠更好地檢測和分析紫外光響應(yīng)的物質(zhì)。貴州微納米結(jié)構(gòu)材料專譜光電設(shè)備
ProSp 角分辨測試系統(tǒng)(ProSp-RTM-UV/VIS)是一款高性能的全角度光譜測量系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微納光學(xué)、生物技術(shù)和礦物分析等領(lǐng)域。以下是其主要功能和應(yīng)用:功能描述全角度測量:接收端角度范圍:0-360°發(fā)射端角度范圍:0-270°高角度分辨率:角度分辨率可達(dá) 0.01°全光譜測量:光譜范圍:250-2500 nm多種測量模式:上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種測量模式自動(dòng)測量模式:通過軟件設(shè)置測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時(shí)間等參數(shù),實(shí)現(xiàn)不同模式的自動(dòng)測量手動(dòng)測量模式:可以任意控制樣品臺(tái)的入射角和接收角進(jìn)行光譜測量黑龍江全角度熒光光譜測量專譜光電測量系統(tǒng)ProSp系統(tǒng)具備全角度測量的能力,接收端0-360°,發(fā)射端0-270°,這為多種角度的光譜分析提供了可能。
系統(tǒng)構(gòu)成光譜儀:海洋光學(xué)科研級(jí)光譜儀,如 QEPRO。激光器:多種波長的激光器,如 532 nm 和 785 nm。顯微鏡:配備多種物鏡,支持不同放大倍率。顯微光譜測量模塊:集成分光鏡和反射鏡,支持熒光、拉曼和反射光譜測量。軟件:ProSp-Soft-QY 軟件,支持多種光譜測量功能。測量方式顯微熒光測量:通過連接熒光激光器和熒光光譜儀,實(shí)現(xiàn)不同激發(fā)波長的顯微熒光測量。顯微拉曼測量:通過拉曼探頭和拉曼光譜儀,實(shí)現(xiàn)微區(qū)拉曼光譜測量。顯微反射測量:通過連接鎢燈光源和反射光譜儀,實(shí)現(xiàn)顯微反射光譜測量。便攜式拉曼測量:便攜式設(shè)計(jì),適用于現(xiàn)場檢測。
ProSp 角分辨測試系統(tǒng)(ProSp-RTM-UV/VIS)靈活的光源選擇:自帶鎢燈光源和外接光源可擴(kuò)展性:可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等光學(xué)器件應(yīng)用領(lǐng)域微納光學(xué):研究微納結(jié)構(gòu)材料和器件的光學(xué)特性材料學(xué):分析薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件等生物技術(shù):用于生物樣品的光譜分析礦物分析:檢測礦物的反射率和透射率防偽技術(shù):用于紙幣防偽檢測LED 光源:評(píng)估 LED 光源的光譜特性液晶顯示:研究液晶顯示材料的光學(xué)性能材料鍍膜:分析材料表面鍍膜的光學(xué)特性在納米激光器和超構(gòu)材料領(lǐng)域,專譜顯微測量系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)微區(qū)顯微光譜測量,二維掃描光譜測量。
4. 多種波長選擇與光纖接口專譜光電提供多種波長的激光器,如 532 nm、785 nm 和 1064 nm,適用于不同的應(yīng)用需求。激光器還配備了標(biāo)準(zhǔn)的光纖接口(如 SMA905 和 FC/PC),方便與光譜儀等設(shè)備連接。5. 用戶友好的操作界面專譜光電的激光器系統(tǒng)操作界面簡潔直觀,用戶可以輕松設(shè)置和調(diào)整參數(shù)。例如,SPL-RAMAN-785 便攜式拉曼光譜檢測系統(tǒng)操作簡單,適合非專業(yè)技術(shù)人員使用。6. 可調(diào)節(jié)的激光功率激光器系統(tǒng)允許用戶根據(jù)不同的樣品和實(shí)驗(yàn)需求調(diào)節(jié)激光功率,提高了實(shí)驗(yàn)的靈活性。7. 快速數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)支持快速數(shù)據(jù)采集和處理,能夠?qū)崟r(shí)顯示測量結(jié)果,提高了實(shí)驗(yàn)效率。采用共焦光路設(shè)計(jì),極大優(yōu)化了系統(tǒng)性能。中國香港HL-2000專譜光電網(wǎng)站
專譜顯微測量系統(tǒng)可以識(shí)別不同的氧化物,這對(duì)于腐蝕產(chǎn)品的識(shí)別具有重要意義。貴州微納米結(jié)構(gòu)材料專譜光電設(shè)備
對(duì)于傳統(tǒng)積分球式的光致發(fā)光及電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng),我們使用積分球收集電致發(fā)光器件的發(fā)射光,光譜儀分析其強(qiáng)度,根據(jù)不同波長計(jì)算其光子數(shù),根據(jù)發(fā)射光子數(shù)與經(jīng)過器件的電流載流子數(shù)的比值,我們可以計(jì)算出樣品的電致發(fā)光量子效率 EQE 。因此,針對(duì)于不同發(fā)光強(qiáng)度及樣品區(qū)域的需求, 我們開發(fā)了這套 ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)。ProSp-ELQY電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)可變光強(qiáng)量子效率測試系統(tǒng)以模塊化思路設(shè)計(jì),適合手套箱內(nèi)使用,應(yīng)對(duì)無論是OLED,QLED,PeLED發(fā)光器件,可在器件制備的全流程中進(jìn)行器件測試,測試系統(tǒng)經(jīng)過可溯源的光源進(jìn)行定標(biāo),能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的***量子產(chǎn)率,色度,和光譜測量。貴州微納米結(jié)構(gòu)材料專譜光電設(shè)備