多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-05-03

2,MIPI協(xié)議的主要應(yīng)用領(lǐng)域

2.5G、3G手機(jī)、PDA、PMP、手持多媒體設(shè)備

3,目前應(yīng)用為成熟的兩個(gè)接口CSI(CameraSerialInterface)一個(gè)位于處理器和顯示模組之間的高速串行接口DSI(DisplaySerialInterface)一個(gè)位于處理器和攝像模組之間的高速串行接口。

4,DSI分層結(jié)構(gòu)DSI分四層,

對(duì)應(yīng)D-PHY、DSI、DCS規(guī)范、分層結(jié)構(gòu)圖如下:

?PHY定義了傳輸媒介,輸入/輸出電路和和時(shí)鐘和信號(hào)機(jī)制。

?LaneManagement層:發(fā)送和收集數(shù)據(jù)流到每條lane。

?LowLevelProtocol層:定義了如何組幀和解析以及錯(cuò)誤檢測(cè)等。

?Application層:描述高層編碼和解析數(shù)據(jù)流。 MIPI接口高速接收電路設(shè)計(jì);多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保

多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保,MIPI測(cè)試

一般來(lái)說(shuō),比較器的失調(diào)電壓主要是由于輸入管不完全對(duì)稱(chēng)引起的。當(dāng)比較器存在輸入失調(diào)時(shí),流經(jīng)DPAIR2模塊中輸人對(duì)管的電流會(huì)不一致,從而造成流入NLOAD2模塊的電流大小也不一致。此時(shí)通過(guò)改變控制字,使itrimm電流與iconst電流大小不同,在NLOAD2模塊中通過(guò)電流鏡補(bǔ)償輸入對(duì)管引起的電流差異,使得vpp和vpn端口剩下的電流一致,從而實(shí)現(xiàn)offset補(bǔ)償。校準(zhǔn)時(shí),將比較器差分輸入端連接到地,通過(guò)對(duì)五位控制字從00000到11111掃描,再?gòu)?1111到00000掃描,觀察比較器的輸出,從而得到合適的控制字,實(shí)現(xiàn)offset校準(zhǔn)。經(jīng)仿真表明,該電路可實(shí)現(xiàn)+/-30mV的失調(diào)電壓校準(zhǔn)。機(jī)械MIPI測(cè)試哪里買(mǎi)MIPI LCD 的CLK時(shí)鐘頻率與顯示分辨率及幀率的關(guān)系;

多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保,MIPI測(cè)試

由于D-PHY信號(hào)比較復(fù)雜,測(cè)試項(xiàng)目也很多,為了方便對(duì)D-PHY信號(hào)的分析,MIPI協(xié)會(huì)提供了一個(gè)的DPHYGUI的信號(hào)分析軟件。用戶可以用示波器手動(dòng)捕獲到相應(yīng)的LP或HS的信號(hào)并保存成數(shù)據(jù)文件,然后用這個(gè)軟件對(duì)波形進(jìn)行分析,圖13.9DPHYGUI軟件的界面。

但需要注意的是,DPHYGUI軟件只側(cè)重于對(duì)LP或HS信號(hào)質(zhì)量的分析,對(duì)于測(cè)試規(guī)范中要求的一些LP和HS狀態(tài)間切換的時(shí)序關(guān)系以及Data和Clock間時(shí)序關(guān)系的測(cè)試項(xiàng)目覆蓋較少。另外,使用DPHYGUI軟件做分析前,用戶需要對(duì)D-PHY的信號(hào)以及示波器的設(shè)置非常熟悉才能夠捕獲到正確的數(shù)據(jù)波形并保存下來(lái)。為了加快和方便D-PHY信號(hào)的測(cè)試,可以使用示波器廠商額外提供的針對(duì)D-PHY的信號(hào)一致性測(cè)試軟件,如Agilent公司的U7238BMIPID-PHY信號(hào)一致性測(cè)試軟件平臺(tái),這個(gè)軟件完全覆蓋了MIPI協(xié)會(huì)的CTS對(duì)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試要求的所有項(xiàng)目,采用圖形化的界面指導(dǎo)用戶完成測(cè)試參數(shù)的設(shè)置和連接,并自動(dòng)完成信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試和測(cè)試報(bào)告的生成。

MIPI-DSI接口IP設(shè)計(jì)與仿真

MIPI-DSI接口IP設(shè)計(jì)模擬部分采用定制方法,數(shù)字部分采用Veriloa語(yǔ)言描述,程序設(shè)計(jì)采用層次化設(shè)計(jì)方法,根據(jù)圖2所示是MIPI-DSI接口總體功能電路設(shè)計(jì)框圖,編寫(xiě)系統(tǒng)spec和模塊spec,設(shè)定各個(gè)功能模塊的互連接目,每個(gè)模塊的數(shù)據(jù)流外理都采用有限狀態(tài)機(jī)進(jìn)行描述。MIPLDSI在上由初始化時(shí)外干閑苦狀態(tài),總線都處于LP-II狀態(tài),當(dāng)檢測(cè)到主機(jī)發(fā)送序列時(shí),從機(jī)接收序列,并判斷開(kāi)始進(jìn)入哪種工作模式,主要有高速接收、Escape模式和反向傳輸(Turnaround)模式。

設(shè)計(jì)的頂層模塊,為頂層模塊搭建測(cè)試平臺(tái)的初始化環(huán)境,根據(jù)MIPI協(xié)議描述的DSI接口的各個(gè)功能,編寫(xiě)測(cè)試激勵(lì)testcase,通過(guò)建立虛擬主機(jī)發(fā)送端,建立虛擬顯示驅(qū)動(dòng)接收端,搭建起系統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái),仿真結(jié)果 MIP測(cè)試I接口到底是什么?

多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保,MIPI測(cè)試

為了適應(yīng)兩種不同的運(yùn)行模式,接收機(jī)端的端接必須是動(dòng)態(tài)的。在HS模式下,接收機(jī)端必須以差分方式端接100Ω;在LP模式下,接收機(jī)開(kāi)路(未端接)。HS模式下的上升時(shí)間與LP模式下是不同的。

接收機(jī)端動(dòng)態(tài)端接加大了D-PHY信號(hào)測(cè)試的復(fù)雜度,這給探測(cè)帶來(lái)極大挑戰(zhàn)。探頭必須能夠在HS信號(hào)和LP信號(hào)之間無(wú)縫切換,而不會(huì)給DUT帶來(lái)負(fù)載。必須在HS進(jìn)入模式下測(cè)量大多數(shù)全局定時(shí)參數(shù),其需要作為時(shí)鐘測(cè)試、數(shù)據(jù)測(cè)試和時(shí)鐘到數(shù)據(jù)測(cè)試來(lái)執(zhí)行。還要在示波器的不同通道上同時(shí)采集Clock+(Cp)、Clock-(Cn)、Data+(Dp)、Data-(Dn)。 MIPI物理層一致性測(cè)試是一種用于檢測(cè)MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測(cè)試方法;山西機(jī)械MIPI測(cè)試

MIPI-DSI接口IP設(shè)計(jì)與仿真;多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保

MIPI規(guī)范框架MIPI規(guī)范為IIoT應(yīng)用程序提供了以下好處:

機(jī)器等對(duì)安全性要求高的設(shè)備可從MIPI的功能安全接口中受益

低功耗設(shè)備受益于MIPI的節(jié)能功能

連接的設(shè)備受益于MIPI的5G

尺寸受限制的設(shè)備得益于

MIPI的低引腳/線數(shù)和低EMIMIPI的軟件和調(diào)試資源可加速設(shè)備設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)。

IIoT解決方案將建立在的設(shè)備之上。我們重點(diǎn)介紹了一些示例,以說(shuō)明MIPI規(guī)范對(duì)不同IIoT用例的適用性。

支持機(jī)器視覺(jué)的MIPI規(guī)范包括:

MIPICC-PHY,D-PHY或A-PHY上的MIPICSI-2提供高度可擴(kuò)展的協(xié)議以連接高分辨率相機(jī),從而實(shí)現(xiàn)低功耗視覺(jué)推斷MIPII3C為攝像機(jī)和其他傳感器提供低復(fù)雜度的雙線命令和控制接口 多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試維保