臺達ME300變頻器:小身材,大能量,開啟工業(yè)調(diào)速新篇章
臺達MH300變頻器:傳動與張力控制的革新利器-友誠創(chuàng)
磁浮軸承驅(qū)動器AMBD:高速變頻技術(shù)引導(dǎo)工業(yè)高效能新時代
臺達液冷型變頻器C2000-R:工業(yè)散熱與空間難題
臺達高防護型MS300 IP66/NEMA 4X變頻器
重載設(shè)備救星!臺達CH2000變頻器憑高過載能力破局工業(yè)難題
臺達C2000+系列變頻器:工業(yè)驅(qū)動的優(yōu)越之選!
臺達CP2000系列變頻器:工業(yè)驅(qū)動的革新力量!
臺達變頻器MS300系列:工業(yè)節(jié)能與智能控制的全能之選。
一文讀懂臺達 PLC 各系列!性能優(yōu)越,優(yōu)勢盡顯
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)??藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員,嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范,配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備,提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)??藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試,PCI-E測試等方面測試服務(wù)。PCI-E的信號測試中否一定要使用一致性測試碼型?智能化多端口矩陣測試PCI-E測試規(guī)格尺寸
在2010年推出PCle3.0標(biāo)準(zhǔn)時,為了避免10Gbps的電信號傳輸帶來的挑戰(zhàn),PCI-SIG 終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標(biāo)準(zhǔn)中把8b/10b編碼 更換為更有效的128b/130b編碼,以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時,為了保證數(shù)據(jù)傳輸 密度和直流平衡,還采用了擾碼的方法,即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個多項式進行異或,這樣傳輸 鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機性,可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時鐘恢復(fù)。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會再用相同的多項式把數(shù)據(jù)恢復(fù)出來。遼寧多端口矩陣測試PCI-E測試為什么PCI-E3.0的一致性測試碼型和PCI-E2.0不一樣?
PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似,都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進行發(fā)送信號質(zhì)量測試,并通過誤碼儀的配合進行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別,下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進行描述。
PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試,協(xié)會建議的測試用的示波器帶寬要高達50GHz。對于主板和插卡來說,由于測試點是在連接器的金手指處,信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會變緩一些,所以信號質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是,在接收端容限測試中,由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn),所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會用到50GHz。
當(dāng)鏈路速率不斷提升時,給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義,信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端,并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV, 小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小 的鏈路裕量下,必須仔細(xì)調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是,預(yù) 加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模 式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6~ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整,并且允許 2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上因素,實際情況下的預(yù)加 重和均衡器參數(shù)的組合可以達幾千種。PCIE與負(fù)載只有時鐘線和數(shù)據(jù)線,搜索的時候沒有控制管理線,怎么找到的寄存器呢?
·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?!latformBIOSTesting(平臺BIOS測試):用于檢查主板BIOS識別和配置PCIe外設(shè)的能力。對于PCIe4.0來說,針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性,替換或增加了以下測試項目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)?!aneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中,針對電氣特性測試,又有專門的物理層測試規(guī)范,用于規(guī)定具體的測試項目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進行的物理層測試項目,其中灰色背景的測試項目都涉及鏈路協(xié)商功能。PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化;PCI-E測試商家
我的被測件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口,怎么進行PCI-E的測試?智能化多端口矩陣測試PCI-E測試規(guī)格尺寸
PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下,主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差,同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些智能化多端口矩陣測試PCI-E測試規(guī)格尺寸