給電板氧化層如何影響放電穩(wěn)定性？如何量化檢測(cè)？

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東莞市銓金材料科技有限公司2025-05-03

東莞市銓金材料可以有限公司生產(chǎn)和銷售多款給電板，需要請(qǐng)聯(lián)系。。。電板氧化層對(duì)放電穩(wěn)定性影響明顯。氧化層過(guò)厚或結(jié)構(gòu)不均，會(huì)增大接觸電阻，導(dǎo)致放電時(shí)局部過(guò)熱、電流分布不均，引發(fā)放電不穩(wěn)定甚至電弧放電，降低加工精度與電板壽命。量化檢測(cè)可通過(guò)以下方法： 1、光學(xué)干涉法：利用光波在氧化層上下表面反射形成的干涉條紋，結(jié)合光度計(jì)分析反射光強(qiáng)度與波長(zhǎng)關(guān)系，計(jì)算氧化層厚度。 2、橢圓偏光法：通過(guò)測(cè)量線性偏振光在氧化層反射后偏振態(tài)的變化，結(jié)合薄膜光學(xué)參數(shù)（如折射率），計(jì)算氧化層厚度，適用于超薄氧化層檢測(cè)。 3、電學(xué)擊穿法：在氧化層表面施加電壓，測(cè)量擊穿電壓并估算氧化層厚度，但屬于破壞性檢測(cè)，需結(jié)合其他方法驗(yàn)證。