激光器光斑分析儀光斑測試

來源: 發(fā)布時間:2025-04-15

全系列產品矩陣與智能分析系統(tǒng) Dimension-Labs BeamHere 系列產品通過全光譜覆蓋與模塊化設計,構建起完整的光束質量測量生態(tài)系統(tǒng): 1. 全場景產品體系 光譜覆蓋:190-2700nm 超寬響應范圍,滿足紫外到遠紅外波段的測試需求 技術方案: 掃描狹縫式:支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,0.1μm 超高分辨率,可測近 10W 高功率激光,適合半導體加工、高功率焊接等場景 相機式:400-1700nm 實時成像,5.5μm 像元精度,標配 6 片濾光片轉輪實現(xiàn) 1μW-1W 寬功率測量,擅長復雜光斑分析與脈沖激光檢測 結構創(chuàng)新:掃描狹縫式采用 ±90° 轉筒調節(jié)與可調光闌設計,相機式支持濾光片轉輪與相機分離,拓展科研成像功能 2. M2 因子測試模塊 兼容全系產品,基于 ISO 11146 標準算法實現(xiàn)光束質量參數(shù)測量 可獲?。?光束發(fā)散角(mrad) 束腰位置(mm) M2 因子(無量綱) 瑞利長度(mm) 支持光束傳播方向上的全鏈路分析,為激光系統(tǒng)設計提供數(shù)據(jù)脈沖激光光束質量怎么測檢測?維度光電,超快激光器研發(fā)利器。激光器光斑分析儀光斑測試

光斑分析儀

在激光應用領域,高功率光束檢測一直是個難題。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏,在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,常規(guī)激光器功率遠超此強度,不衰減光束不僅無法測量光斑信息,還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng)。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 的高功率激光,無需額外衰減片。在此基礎上,還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng)。與合適衰減片搭配,可測功率超 1000W。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,45° 傾斜設計,取樣率 4% - 5%,有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結構,能測量任意角度入射激光;雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2,內部緊湊安裝兩片取樣透鏡,取樣率 0.16% - 0.25%,可應對 400W 功率光束,多面體結構有多個支撐安裝孔位。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光,大衰減程度達 10??。而且其緊湊結構的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,單次取樣 68mm,雙次取樣 53mm,為各類激光應用場景的檢測提供了方案。國產光斑分析儀怎么搭建掃描和狹縫光斑分析儀怎么選?

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Dimension-Labs 推出的相機式光斑分析儀系列包含兩個型號,覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍,實現(xiàn)可見光與近紅外波段光斑的實時顯示與分析。其優(yōu)勢如下: 寬光譜覆蓋與動態(tài)分析 單臺設備即可滿足 400-1700nm 全波段測量需求,支持 2D 光斑實時成像與 3D 功率分布動態(tài)分析。高幀率連續(xù)測量模式下,可實時捕捉光斑變化并生成任意視角的 3D 視圖,為光學系統(tǒng)調試、動態(tài)測試及時間監(jiān)控提供直觀數(shù)據(jù)支持。 復雜光斑適應性 基于面陣傳感器的成像原理,可測量非高斯分布光束(如平頂、貝塞爾光束)及含高階橫模的復雜光斑,突破傳統(tǒng)掃描式設備的局限性。 功率調節(jié)系統(tǒng) 標配 6 片不同衰減率的濾光片,通過獨特的轉輪結構實現(xiàn)功率范圍擴展,可測功率提升 100 倍。一鍵切換濾光片設計簡化操作流程,兼顧寬量程與高精度需求。 科研級功能拓展 采用模塊化可拆卸設計,光斑分析相機與濾光片轉輪可分離使用。拆卸后的相機兼容通用驅動軟件,支持科研成像、光譜分析等擴展應用,實現(xiàn)工業(yè)檢測與實驗室的一機多用。

維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統(tǒng):采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現(xiàn) XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統(tǒng)集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現(xiàn) 0.1μm 分辨率與 ±0.8% 測量重復性。 相機式成像系統(tǒng):搭載背照式 CMOS 傳感器(量子效率 95%@500-1000nm),結合非球面透鏡組消除畸變,支持皮秒級觸發(fā)同步與全局快門技術,捕捉單脈沖光斑形態(tài)。算法通過二階矩法計算 M2 因子,測量精度達 ±0.3%。 創(chuàng)新突破: 狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量 面陣傳感器動態(tài)范圍擴展技術支持 1μW-1W 寬功率檢測 AI 缺陷診斷模型自動識別光斑異常(率 97.2%)有沒有一體化的光斑分析儀和 M2 因子測量模塊產品?

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維度光電-光斑分析儀的使用 科研場景 將 BeamHere 安裝在飛秒激光實驗平臺,使用觸發(fā)模式同步采集單脈沖光斑。 通過軟件 "時間序列分析" 功能,觀察脈沖序列中光斑形態(tài)變化。 調用 "光束質量評估" 模塊,計算啁啾脈沖的 M2 因子演變曲線。 在 "用戶自定義" 界面添加波長、脈寬等實驗參數(shù),生成帶批注的報告。 工業(yè)場景 在激光切割設備光路中插入 BeamHere,選擇 "在線監(jiān)測" 模式。 實時顯示光斑橢圓率、能量分布均勻性等參數(shù)。 當檢測到光斑漂移超過閾值時,軟件自動觸發(fā)警報并記錄異常數(shù)據(jù)。 每日生成生產質量報表,統(tǒng)計良品率與設備穩(wěn)定性趨勢。光斑分析儀國產替代都有哪些廠家?國產光斑分析儀怎么搭建

如何評判激光質量的好壞?激光器光斑分析儀光斑測試

Dimension-Labs 突破性推出 Beamhere 智能光斑分析平臺,通過模塊化設計實現(xiàn)光束質量全參數(shù)檢測。該系統(tǒng)采用高靈敏度傳感器陣列,可實時測繪光斑能量分布,同步計算發(fā)散角及 M2 因子等指標。針對光束整形、聚焦優(yōu)化等場景,系統(tǒng)提供專業(yè)分析模板,支持 ISO11146 標準參數(shù)輸出??蛇x配的 M2 測試模塊通過滑軌式掃描技術,實現(xiàn)光束傳播特性的三維重建,終由 AI 算法自動生成包含能量集中度、橢圓率等 20 + 參數(shù)的測試報告。 產品優(yōu)勢: 滿足測試需求的全系列產品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件。 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。激光器光斑分析儀光斑測試

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