維度光電光束質(zhì)量測量解決方案基于兩大技術(shù)平臺: 掃描狹縫式系統(tǒng):采用正交狹縫轉(zhuǎn)動輪結(jié)構(gòu),通過 ±90° 旋轉(zhuǎn)實現(xiàn) XY 軸同步掃描,結(jié)合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統(tǒng)集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現(xiàn) 0.1μm 分辨率與 ±0.8% 測量重復性。 相機式成像系統(tǒng):搭載背照式 CMOS 傳感器(量子效率 95%@500-1000nm),結(jié)合非球面透鏡組消除畸變,支持皮秒級觸發(fā)同步與全局快門技術(shù),捕捉單脈沖光斑形態(tài)。算法通過二階矩法計算 M2 因子,測量精度達 ±0.3%。 創(chuàng)新突破: 狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量 面陣傳感器動態(tài)范圍擴展技術(shù)支持 1μW-1W 寬功率檢測 AI 缺陷診斷模型自動識別光斑異常(率 97.2%)脈沖激光光束質(zhì)量怎么測檢測?維度光電,超快激光器研發(fā)利器。激光器光斑分析儀作用
全系列產(chǎn)品矩陣與智能分析系統(tǒng) Dimension-Labs BeamHere 系列產(chǎn)品通過全光譜覆蓋與模塊化設計,構(gòu)建起完整的光束質(zhì)量測量生態(tài)系統(tǒng): 1. 全場景產(chǎn)品體系 光譜覆蓋:190-2700nm 超寬響應范圍,滿足紫外到遠紅外波段的測試需求 技術(shù)方案: 掃描狹縫式:支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,0.1μm 超高分辨率,可測近 10W 高功率激光,適合半導體加工、高功率焊接等場景 相機式:400-1700nm 實時成像,5.5μm 像元精度,標配 6 片濾光片轉(zhuǎn)輪實現(xiàn) 1μW-1W 寬功率測量,擅長復雜光斑分析與脈沖激光檢測 結(jié)構(gòu)創(chuàng)新:掃描狹縫式采用 ±90° 轉(zhuǎn)筒調(diào)節(jié)與可調(diào)光闌設計,相機式支持濾光片轉(zhuǎn)輪與相機分離,拓展科研成像功能 2. M2 因子測試模塊 兼容全系產(chǎn)品,基于 ISO 11146 標準算法實現(xiàn)光束質(zhì)量參數(shù)測量 可獲取: 光束發(fā)散角(mrad) 束腰位置(mm) M2 因子(無量綱) 瑞利長度(mm) 支持光束傳播方向上的全鏈路分析,為激光系統(tǒng)設計提供數(shù)據(jù)大靶面光斑分析儀是什么光束質(zhì)量分析儀推薦?維度光電 M2 因子測量模塊;
BeamHere 分析軟件作為組件,支持多設備協(xié)同工作:掃描數(shù)據(jù)自動校準、光斑模式智能識別、M2 因子三維重建。通過機器學習算法,可自動補償環(huán)境光干擾與溫度漂移。通過可視化界面,用戶可實時查看光斑能量分布云圖、發(fā)散角變化曲線及束腰位置動態(tài)圖,支持多參數(shù)聯(lián)動分析。軟件內(nèi)置模板庫,一鍵生成包含 20 + 參數(shù)的標準化報告,支持 PDF/Excel/XML 多格式導出,并支持數(shù)據(jù)追溯與批量處理,歷史數(shù)據(jù)可自動關(guān)聯(lián)測試條件,縮短測試周期。企業(yè)版支持用戶權(quán)限分級管理與數(shù)據(jù)加密。
維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質(zhì)量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑細節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設計實現(xiàn)功率范圍擴展,可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(shù)(M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等),結(jié)合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景。M2 因子測量模塊怎么選?維度光電 M2 因子測量模塊,搭配光斑分析儀,測量激光光束質(zhì)量。
維度光電BeamHere 光斑分析儀選型指南: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米用狹縫式(2.5μm 精度),毫米級用相機式(10mm 量程)。 功率等級:高功率用狹縫式(近 10W),微瓦級用相機式(適配衰減片)。 光束形態(tài):高斯用狹縫式(經(jīng)濟),非高斯用相機式(保留細節(jié))。 脈沖特性:單脈沖用相機式(觸發(fā)同步),連續(xù)/高頻用狹縫式(匹配掃描頻率)。 2. 應用場景適配 工業(yè):高功率用狹縫式,動態(tài)監(jiān)測與校準用相機式,組合方案覆蓋全流程。 醫(yī)療:相機式監(jiān)測能量分布,脈沖激光適配觸發(fā)模式確保精度。 科研:超短脈沖與復雜光束分析用相機式,材料加工優(yōu)化結(jié)合狹縫式。 光通信:光纖檢測用相機式,激光器表征用狹縫式高靈敏度測量。 3. 功能擴展規(guī)劃 單一需求:以光斑尺寸與功率為,如高功率 + 亞微米光斑選狹縫式。 復雜場景:雙技術(shù)組合(狹縫式 + 相機式),實現(xiàn)全場景覆蓋。 長期規(guī)劃:科研機構(gòu)選全功能模塊(M2 因子測試、皮秒同步),工業(yè)用戶選基礎款 + 定制接口。光斑分析儀國產(chǎn)替代都有哪些廠家?無干涉光斑分析儀原理
可用于自動化設備集成的光斑質(zhì)量分析儀。激光器光斑分析儀作用
維度光電深刻認識到高功率光束檢測在激光應用中的性和難度。大多數(shù)光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會飽和,而常規(guī)激光器功率普遍較高,這使得大功率光束檢測成為激光應用的難點。為解決這一問題,維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統(tǒng)。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 高功率激光,保障了測試過程的安全與高效。為應對更高功率,又推出單次和雙次取樣配件,可疊加使用形成多次取樣系統(tǒng)。搭配合適衰減片,可測功率超 1000W。單次取樣配件 DL - LBA - 1,取樣率 4% - 5%,采用 45° 傾斜設計和 C 口安裝,有鎖緊環(huán)可固定在任意方向測量不同角度入射激光;雙次取樣配件 DL - LBA - 2,取樣率 0.16% - 0.25%,內(nèi)部兩片取樣透鏡緊湊安裝,能應對 400W 功率光束,多面體結(jié)構(gòu)便于工業(yè)或?qū)嶒灜h(huán)境安裝。組合安裝配件可獲得高衰減程度,實現(xiàn)更高功率激光測量。同時,其緊湊結(jié)構(gòu)設計的取樣光程滿足聚焦光斑測量,單次 68mm,雙次 53mm,為激光生產(chǎn)提供了強大的檢測支持。激光器光斑分析儀作用