維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列,整合掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線,為激光光束質(zhì)量檢測提供全場景解決方案。 掃描狹縫式光斑分析儀刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),覆蓋 190-2700nm 寬光譜,支持 2.5μm-10mm 光束直徑測量。0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節(jié),無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工、醫(yī)療設備等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設計實現(xiàn)功率范圍擴展,可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(shù)(M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等),結(jié)合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景。光斑分析儀與M2測試模塊組合,實現(xiàn)對光束傳播方向的發(fā)散角、M2因子、聚焦直徑等測量。光斑位置光斑分析儀價格多少
使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質(zhì)量測量的流程 系統(tǒng)搭建:將 BeamHere 相機式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,通過支架調(diào)節(jié)位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數(shù)據(jù)線連接設備與電腦,安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅(qū)動校準。 數(shù)據(jù)采集:開啟半導體激光器至穩(wěn)定輸出狀態(tài),軟件選擇 "連續(xù)采集" 模式,設置曝光時間 50μs,幀率 100fps,同步觸發(fā)激光器確保單脈沖捕捉。 參數(shù)提取:軟件自動識別光斑區(qū)域,計算 FWHM 直徑(XY 軸)、橢圓率、能量集中度等 12 項基礎參數(shù),同時基于 ISO 11146 標準算法生成 M2 因子、瑞利長度等光束質(zhì)量指標。 可視化分析:切換至 3D 視圖旋轉(zhuǎn)觀察能量分布,通過 "刀邊法" 驗證光斑對稱性,標記異常區(qū)域進行局部放大分析。 報告輸出:點擊 "生成報告" 按鈕,自動插入測試日期、激光器參數(shù)、測量曲線等內(nèi)容,支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導出。維度光電自研光斑分析儀系統(tǒng)搭建國產(chǎn)光斑分析儀哪個好?維度光電光斑分析儀全系列。
在激光應用領域,高功率光束檢測一直是個難題。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏,在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,常規(guī)激光器功率遠超此強度,不衰減光束不僅無法測量光斑信息,還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng)。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 的高功率激光,無需額外衰減片。在此基礎上,還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng)。與合適衰減片搭配,可測功率超 1000W。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,45° 傾斜設計,取樣率 4% - 5%,有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),能測量任意角度入射激光;雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2,內(nèi)部緊湊安裝兩片取樣透鏡,取樣率 0.16% - 0.25%,可應對 400W 功率光束,多面體結(jié)構(gòu)有多個支撐安裝孔位。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光,大衰減程度達 10??。而且其緊湊結(jié)構(gòu)的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,單次取樣 68mm,雙次取樣 53mm,為各類激光應用場景的檢測提供了方案。
光斑分析儀通過光學傳感器將光斑能量分布轉(zhuǎn)化為電信號,結(jié)合算法分析實現(xiàn)光束質(zhì)量評估。Dimension-Labs 產(chǎn)品采用雙技術(shù)路線:掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,實現(xiàn) 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度測量;相機式則利用面陣傳感器實時成像,支持 200-2600nm 全光譜覆蓋。全系標配 M2 因子測試模塊,結(jié)合 BeamHere 軟件,可自動計算發(fā)散角、橢圓率等參數(shù),并生成符合 ISO 11146 標準的測試報告。 產(chǎn)品優(yōu)勢: 滿足測試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。多光斑光束質(zhì)量測量系統(tǒng)。
Dimension-Labs 針對高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng),突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制,通過創(chuàng)新狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量,配合可疊加的單次(DL-LBA-1)與雙次(DL-LBA-2)取樣配件形成多級衰減方案,衰減達 10??,可測功率超 1000W。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設計的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率,雙次配件內(nèi)置雙片透鏡實現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率,均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),支持任意角度入射光束檢測。其優(yōu)化設計的 68mm(單次)和 53mm(雙次)取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器,解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問題,緊湊結(jié)構(gòu)減少 70% 空間占用。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍,通過 CE/FCC 認證,可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作,已成功應用于工業(yè)激光加工(熱影響區(qū)≤30μm)、科研超快激光(皮秒脈沖分析)及醫(yī)療設備校準(能量均勻性誤差<2%),幫助客戶提升 3 倍檢測效率并降** 30% 檢測成本。光束質(zhì)量M2怎么測量?國產(chǎn)光斑分析儀是什么
光斑分析儀都有哪些類型?光斑位置光斑分析儀價格多少
維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質(zhì)量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑細節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設計實現(xiàn)功率范圍擴展,可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(shù)(M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等),結(jié)合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景。光斑位置光斑分析儀價格多少