小光斑光斑分析儀性能

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質量檢測解決方案，涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產品線： 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術，支持 190-2700nm 寬光譜范圍，可測量 2.5μm-10mm 光束直徑，0.1μm 超高分辨率實現亞微米級光斑細節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光，適用于激光加工等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段，支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析，可測量非高斯光束（如平頂、貝塞爾光束）。獨特的六濾光片轉輪設計實現功率范圍擴展，可拆卸結構支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產品，通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數（M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等），結合 BeamHere 軟件實現一鍵生成報告、多參數同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領域的光斑檢測需求，兼顧實驗室與產線在線監(jiān)測場景。半導體行業(yè)激光光束質量檢測方案。小光斑光斑分析儀性能

Dimension-Labs 推出的掃描狹縫式光斑分析儀，通過國內的雙模式切換技術，實現 190-2700nm 寬光譜覆蓋與 2.5μm-10mm 光束直徑測量。其 0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節(jié)，創(chuàng)新設計解決三大檢測痛點： 小光斑測量：刀口模式分析 < 20μm 光斑形態(tài)，避免像素丟失 高功率檢測：狹縫物理衰減機制允許直接測量近 10W 激光，無需衰減片 大光斑分析：狹縫模式支持 10mm 光斑能量分布檢測 設備采用正交狹縫轉動輪結構，通過旋轉掃描同步采集 XY 軸數據，經算法處理輸出光束直徑、橢圓率等參數。緊湊設計適配多場景安裝，通過 CE/FCC 認證，適用于激光加工、醫(yī)療設備及科研領域，幫助客戶提升光束質量檢測效率，降**檢測成本。束腰半徑光斑分析儀操作光斑分析儀培訓服務？維度光電提供線上 + 線下技術培訓，包教包會。

維度光電深刻認識到高功率光束檢測在激光應用中的性和難度。大多數光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會飽和，而常規(guī)激光器功率普遍較高，這使得大功率光束檢測成為激光應用的難點。為解決這一問題，維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統(tǒng)。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制，可直接測量近 10W 高功率激光，保障了測試過程的安全與高效。為應對更高功率，又推出單次和雙次取樣配件，可疊加使用形成多次取樣系統(tǒng)。搭配合適衰減片，可測功率超 1000W。單次取樣配件 DL - LBA - 1，取樣率 4% - 5%，采用 45° 傾斜設計和 C 口安裝，有鎖緊環(huán)可固定在任意方向測量不同角度入射激光；雙次取樣配件 DL - LBA - 2，取樣率 0.16% - 0.25%，內部兩片取樣透鏡緊湊安裝，能應對 400W 功率光束，多面體結構便于工業(yè)或實驗環(huán)境安裝。組合安裝配件可獲得高衰減程度，實現更高功率激光測量。同時，其緊湊結構設計的取樣光程滿足聚焦光斑測量，單次 68mm，雙次 53mm，為激光生產提供了強大的檢測支持。

維度光電聚焦激光領域應用，推出覆蓋千瓦高功率、微米小光斑及脈沖激光的光束質量測量解決方案。全系產品包含掃描狹縫式與相機式兩大技術平臺：狹縫式通過正交狹縫轉動輪實現 0.1μm 超高分辨率，可直接測量近 10W 激光，適用于半導體晶圓切割等亞微米級場景；相機式采用面陣傳感器實時捕獲光斑形態(tài)，支持皮秒級觸發(fā)同步，分析脈沖激光能量分布。技術突破包括：基于 ISO 11146 標準的 M2 因子算法，實現光束發(fā)散角、束腰位置等 18 項參數測量；AI 缺陷診斷系統(tǒng)自動識別光斑異常，率達 97.2%。在工業(yè)實戰(zhàn)中，狹縫式設備通過實時監(jiān)測光斑橢圓率，幫助某汽車零部件廠商將激光切割合格率提升至 99.6%；科研場景下，相機式與 M2 模塊組合成功解析飛秒激光傳輸特性，相關成果發(fā)表于《Nature Photonics》。針對不同需求，維度光電提供 "檢測設備 + 自動化接口 + 云平臺" 工業(yè)方案及 "全功能主機 + 定制模塊" 科研方案，助力客戶縮短周期 40% 以上。未來將多模態(tài)融合設備與手持式分析儀，推動激光測量技術智能化升級。用于準直器生產的光斑質量分析儀。

維度光電致力于激光領域的應用，將展示一系列針對千瓦級高功率、微米級小光斑以及脈沖激光的光束質量測量解決方案。在此次展示中，我們將拆解光斑分析儀的全系列產品，深度剖析其技術，從光學原理到智能算法，為您層層揭秘。通過實際操作演示，直觀展現產品在復雜工況下的良好的穩(wěn)定性和超高測量精度。 我們將詳細介紹光斑分析儀的工作原理，包括其光學系統(tǒng)的設計、信號處理技術以及數據處理算法等環(huán)節(jié)。同時，我們還將展示光斑分析儀在不同應用場景中的表現，例如在工業(yè)生產、科研探索以及質量檢測等方面的實際應用案例。通過這些案例，您可以了解到光斑分析儀如何在各種復雜環(huán)境下保持高穩(wěn)定性和高測量精度。 此外，針對工業(yè)生產和科研探索的不同需求，我們還將分享一系列精心打造的一站式完備方案。這些方案不僅包括光斑分析儀，還涵蓋了其他相關設備和軟件，旨在為您提供專業(yè)的技術支持和服務。我們的目標是幫助您突破技術瓶頸，在激光領域取得新的突破，從而推動整個行業(yè)的發(fā)展。光束發(fā)散角測量原理是什么？大功率光斑分析儀測量

近場光斑測試方案，推進半導體，硅光行業(yè)優(yōu)化升級。小光斑光斑分析儀性能

相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態(tài)復雜度： 1. 光斑尺寸 相機式：受限于 sensor 尺寸（≤10mm），小光斑為 55μm（10 倍 5.5μm 像元）。 狹縫式：刀口模式可測小 2.5μm 光斑，適合亞微米級檢測。 2. 功率范圍 相機式： 6 片衰減片（BeamHere 標配），可測 1W，需控制功率 < 10μW/cm2。 狹縫式：狹縫物理衰減機制支持近 10W 直接測量，無需外置衰減片。 3. 脈沖激光 相機式：觸發(fā)模式同步捕獲完整單脈沖光斑，兼容性強。 狹縫式：需匹配掃描頻率與激光重頻，易丟失脈沖信息。 4. 光斑形態(tài) 相機式：面陣傳感器保留非高斯光束（如貝塞爾光束）及高階橫模細節(jié)。 狹縫式：狹縫累加導致復雜光斑失真，適合高斯或規(guī)則光斑。 選擇建議 狹縫式：亞微米光斑、高功率或高斯光斑檢測。 相機式：大光斑、脈沖激光或復雜非高斯光束分析。 維度光電 BeamHere 系列提供兩種技術方案，適配實驗室與工業(yè)場景的全場景需求。小光斑光斑分析儀性能