維度光電BeamHere 光斑分析儀系列,提供全場景激光光束質(zhì)量分析解決方案。產(chǎn)品覆蓋 190-2700nm 光譜,包括掃描狹縫式和相機式技術(shù),實現(xiàn)亞微米至毫米級光斑測量。掃描狹縫式支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,具備 0.1μm 分辨率,適用于高功率激光。相機式提供 400-1700nm 響應,實現(xiàn) 2D/3D 成像分析,測量功率范圍 1μW-1W。M2 因子測試模塊基于 ISO 11146 標準,評估光束質(zhì)量。軟件提供自動化分析和標準化報告。技術(shù)創(chuàng)新包括正交狹縫轉(zhuǎn)動輪結(jié)構(gòu)和適應復雜光斑的面陣傳感器。產(chǎn)品適用于光束整形檢驗、光鑷系統(tǒng)檢測和準直監(jiān)測。結(jié)構(gòu)設計優(yōu)化,通過 CE/FCC 認證,應用于多個領域,助力光束質(zhì)量分析和工藝優(yōu)化。多光斑光束質(zhì)量怎么測?beam here光斑分析儀原理
光斑分析儀通過光學傳感器將光斑能量分布轉(zhuǎn)化為電信號,結(jié)合算法分析實現(xiàn)光束質(zhì)量評估。其傳感器采用量子阱材料設計,響應速度達 0.1μs,可捕捉皮秒級激光脈沖。Dimension-Labs 產(chǎn)品采用雙技術(shù)路線:掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,實現(xiàn) 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度測量,配合動態(tài)增益補償技術(shù),在千萬級功率下仍保持線性響應;相機式則利用面陣傳感器實時成像,支持 200-2600nm 全光譜覆蓋,像素分辨率達 1280×1024,動態(tài)范圍達 60dB。全系標配 M2 因子測試模塊,結(jié)合 BeamHere 軟件,可自動計算發(fā)散角、橢圓率等參數(shù),并通過高斯擬合算法將測量誤差控制在 ±0.8% 以內(nèi),終生成符合 ISO 11146 標準的測試報告。國內(nèi)光斑分析儀官網(wǎng)如何利用光斑分析儀和 M2 因子測量模塊評估激光質(zhì)量?
Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),覆蓋 190-2700nm 寬光譜,可測 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率突破傳統(tǒng)檢測極限。其創(chuàng)新設計實現(xiàn)三大優(yōu)勢: 雙模式自適應檢測 通過軟件切換刀口 / 狹縫模式,分析 < 20μm 極小光斑形態(tài)或 10mm 大光斑能量分布,全量程無盲區(qū)。 高功率直接測量 狹縫物理衰減機制允許單次通過狹縫區(qū)域光,無需外置衰減片即可安全測量近 10W 高功率激光。 超分辨率成像 基于狹縫掃描原理實現(xiàn) 0.1μm 分辨率,完整捕捉亞微米級光斑細節(jié),避免能量分布特征丟失。 設備內(nèi)置正交狹縫轉(zhuǎn)動輪,通過旋轉(zhuǎn)掃描同步采集 XY 軸功率數(shù)據(jù),經(jīng)算法處理輸出光束直徑、橢圓率等 20 + 參數(shù)。緊湊模塊化設計適配多場景安裝,通過 CE/FCC 認證,適用于激光加工、醫(yī)療設備及科研領域,助力客戶提升光束質(zhì)量檢測精度與效率。
選擇適合特定應用的 BeamHere 光斑分析儀需綜合考量光束特性、應用場景及功能需求: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米級光斑(如半導體加工)優(yōu)先選擇狹縫式(支持 2.5μm 精度),毫米級光斑(如激光焊接)推薦相機式(覆蓋 10mm 量程)。 功率等級:高功率激光(如工業(yè)切割)應選狹縫式(直接測量近 10W),微瓦級弱光(如科研實驗)可采用相機式(通過 6 片衰減片適配)。 光束形態(tài):高斯或規(guī)則光斑兩者均可(狹縫式更經(jīng)濟),非高斯光束(如貝塞爾光束)需相機式保留細節(jié)。 脈沖特性:單脈沖分析選相機式(觸發(fā)同步),連續(xù)或高頻脈沖適配狹縫式(需匹配掃描頻率)。 2. 應用場景適配 工業(yè)制造:高功率加工(>1W)選狹縫式,動態(tài)監(jiān)測與大光斑校準選相機式,組合方案可覆蓋全流程需求。 醫(yī)療設備:眼科準分子激光需相機式實時監(jiān)測能量分布,脈沖激光適配觸發(fā)模式,確保手術(shù)精度。 :超短脈沖測量、復雜光束分析(如 M2 因子)依賴相機式,材料加工優(yōu)化可結(jié)合狹縫式高精度掃描。 光通信:光纖端面檢測選相機式分析光斑形態(tài),激光器表征適配狹縫式高靈敏度測量。光束質(zhì)量分析儀推薦?維度光電 M2 因子測量模塊;
維度光電 BeamHere 系列為激光光束質(zhì)量檢測提供高性價比解決方案: 掃描狹縫式:國內(nèi)刀口 / 狹縫雙模式切換,覆蓋 190-2700nm 光譜,可測 2.5μm-10mm 光束,0.1μm 分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑分析。創(chuàng)新狹縫衰減機制支持 10W 級高功率直接測量,無需外置衰減片。 相機式:400-1700nm 寬譜響應,支持實時 2D/3D 成像與非高斯光束測量。六濾光片轉(zhuǎn)輪設計擴展功率量程,可拆卸結(jié)構(gòu)兼顧工業(yè)檢測與科研成像需求。 M2 測試模塊:通過 ISO 11146 標準算法,測量 M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等參數(shù),適配全系產(chǎn)品。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面,支持一鍵生成標準化報告,滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等多場景需求。系統(tǒng)以模塊化設計實現(xiàn)高精度檢測,助力客戶提升效率與產(chǎn)品質(zhì)量。光束發(fā)散角應該如何測量。可見光光斑分析儀價格多少
光斑分析儀多少錢?維度光電廠家直供,型號齊全,價格從 1.8 萬至 18 萬覆蓋全需求。beam here光斑分析儀原理
Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析儀,通過配套通用軟件構(gòu)建完整光束質(zhì)量評估體系。該系統(tǒng)集成光斑能量分布測繪、發(fā)散角測量及 M2 因子計算三大功能,可有效分析光束整形、聚焦及準直效果。所有參數(shù)均符合 ISO11146 標準,包括光斑寬度、質(zhì)心偏移量和橢圓率等指標。用戶可選配 M2 測試模塊,實現(xiàn)光束傳播方向上的束腰定位、發(fā)散角測量及 M2 因子計算,終通過軟件一鍵生成標準化測試報告。BeamHere把對于激光光束的評價進?量化,并由軟件?鍵輸出測試報告,精確且?效的完成光束分析。beam here光斑分析儀原理