熱像儀計量校準的具體的校準方法和步驟
校準前準備
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設(shè)備準備:標準器采用鉑電阻溫度計或輻射溫度計,準備滿足校準規(guī)范的輻射源,如高精度的黑體輻射源。
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環(huán)境條件:校準時的溫度應(yīng)為 23℃±5℃,相對濕度應(yīng)不大于 85%(無結(jié)露),外界無較大干擾源。
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人員要求:校準人員應(yīng)熟悉校準規(guī)程和待測設(shè)備的性能參數(shù),會規(guī)范使用設(shè)備,比較好是通過培訓(xùn)或有同種校準經(jīng)驗的人員。
校準流程
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外觀檢查:檢查待校準熱像儀外觀是否潔凈,有無形變、破損,數(shù)字顯示是否清晰,各部件是否齊全、連接是否緊固,設(shè)備的名稱、型號、性能參數(shù)、使用說明等資料是否齊全。
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基本功能檢測:確認待校準設(shè)備部件齊全,按鍵、電源等正常,正常工作。
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性能檢測
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準備校準實驗室:在校準實驗室中,使用高精度的熱像儀參考源,將參考源均勻排列,以便熱像儀進行測量。
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執(zhí)行校準:熱像儀依次指向每個參考源,并記錄每個溫度下的信號值。校準軟件捕獲這些信號值和參考源的溫度值,并用于繪制曲線。
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數(shù)據(jù)分析:校準完成后,將熱像儀的數(shù)據(jù)載入校準軟件中進行分析,確定熱像儀的準確性和精度。
校準結(jié)果處理
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判定:根據(jù)校準數(shù)據(jù)判定被測儀器,如所有校準項目均合格則出具檢測證書,如有不合格項目,要做好標注,出具檢測結(jié)果通知。
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溫度開關(guān)校準前準備
1. 標準器及配套設(shè)備
1.標準溫度源:選用干井爐或恒溫槽,溫度波動度≤±0.3℃,均勻性≤±0.5℃,確保溫場穩(wěn)定。
2.溫度測量設(shè)備:配備二等標準鉑電阻溫度計或高精度數(shù)字溫度表(最大允許誤差≤±0.1℃),用于實時監(jiān)測溫度源實際值。
3.開關(guān)狀態(tài)檢測:準備數(shù)字多用表或通斷測試儀(響應(yīng)時間≤10ms),用于檢測溫度開關(guān)觸點通斷狀態(tài)及動作響應(yīng)時間。
4.輔助工具:絕緣耐高溫夾具(固定溫度開關(guān)探頭)、計時器(記錄動作時間偏差)、高溫防護手套。
2. 環(huán)境條件
1.實驗室溫度(20±5)℃,相對濕度≤70%,避免氣流擾動影響溫場均勻性。
2.遠離振動源及強電磁干擾設(shè)備,工作臺穩(wěn)固防振,電氣接地良好。
3.高溫校準時需設(shè)置安全防護區(qū),防止人員接觸高溫部件。
3. 被校儀器檢查
1.外觀檢查:外殼無變形、破損,接線端子無氧化,標簽(型號、動作溫度值)清晰。
2.機械性能檢查:開關(guān)動作機構(gòu)靈活無卡滯,復(fù)位彈簧無銹蝕或疲勞,觸點無燒蝕或污漬。
3.功能預(yù)測試:常溫下手動觸發(fā)開關(guān),通斷狀態(tài)正常,觸點電阻≤0.1Ω(通過多用表測量)。
4.校準點設(shè)置:根據(jù)規(guī)格書預(yù)設(shè)至少3個動作溫度點,升溫/降溫速率≤1℃/min,避免過沖。
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熱像儀主要由以下部分構(gòu)成:
(1) 紅外光學(xué)系統(tǒng)
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透鏡材料:使用鍺(Germanium)、硒化鋅(ZnSe)等特殊材料制成透鏡,因普通玻璃會阻擋紅外線。
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聚焦紅外輻射:將目標物體發(fā)出的紅外輻射聚焦到紅外探測器上。
(2) 紅外探測器
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類型:分為制冷型(需液氮或斯特林制冷器降溫,靈敏度高)和非制冷型(基于微測輻射熱計,成本低、體積?。?。
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功能:將紅外輻射轉(zhuǎn)換為電信號。探測器由大量微小像素單元(如氧化釩或非晶硅材料)組成,每個像素對應(yīng)圖像中的一個點。
(3) 信號處理系統(tǒng)
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電信號轉(zhuǎn)換:探測器輸出的微弱電信號被放大和數(shù)字化。
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溫度標定:通過算法將電信號轉(zhuǎn)換為溫度值,考慮環(huán)境溫度、物體發(fā)射率等因素修正。
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圖像生成:將溫度數(shù)據(jù)映射為偽彩色圖像(如高溫顯示為紅色/白色,低溫顯示為藍色/黑色)。
(4) 顯示輸出
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可視化顯示:通過屏幕輸出熱圖像,疊加溫度數(shù)值、等溫線等功能輔助分析。
溫濕度記錄儀校準前準備
1. 標準器及配套設(shè)備
1.主標準器:選用二等標準鉑電阻溫度計及標準濕度發(fā)生器,其不確定度需優(yōu)于被校記錄儀的1/3。
2.恒溫恒濕箱:溫度波動度≤±0.3℃,濕度波動度≤±1.5%RH,均勻性分別≤±0.5℃和±2.0%RH,確保校準環(huán)境穩(wěn)定。
3.數(shù)據(jù)比對設(shè)備:配置多通道高精度測溫儀及濕度傳感器,同步記錄標準值與記錄儀輸出數(shù)據(jù)。
4.輔助工具:探頭固定支架、屏蔽線纜、計時器、校準軟件。
2. 環(huán)境條件
1.實驗室溫濕度穩(wěn)定在(20±3)℃、(50±10)%RH,避免氣流擾動或人員頻繁出入導(dǎo)致環(huán)境波動。
2.校準區(qū)域遠離強電磁場、振動源及熱輻射設(shè)備,電源單獨接地,電壓波動≤±5%。
3.恒溫恒濕箱提前2小時預(yù)熱至校準點,并穩(wěn)定運行30分鐘以上。
3. 被校儀器檢查
1.外觀檢查:記錄儀外殼無破損,探頭無污染或結(jié)露,顯示屏無斷碼,按鍵及接口功能正常。
2.功能驗證:開機自檢無報錯,溫濕度示值穩(wěn)定無跳變。測試數(shù)據(jù)存儲周期、報警閾值觸發(fā)、數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能正常。
3.校準設(shè)置:禁用內(nèi)部溫濕度補償功能,恢復(fù)出廠參數(shù)設(shè)置。確認記錄間隔與校準軟件同步,清理歷史數(shù)據(jù)避免干擾。
4.預(yù)熱處理:記錄儀在恒溫恒濕環(huán)境中靜置1小時,確保探頭與環(huán)境充分熱平衡。
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壓力式溫度計校準步驟
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外觀檢查:查看壓力式溫度計的表盤是否清晰、有無破損,指針是否能靈活轉(zhuǎn)動,感溫包、毛細管和指示表頭之間的連接是否牢固,有無泄漏等情況。
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安裝固定:將壓力式溫度計的感溫包與標準溫度計一起放入恒溫槽中,確保感溫包與標準溫度計的感溫元件處于同一水平位置,且與恒溫槽內(nèi)的介質(zhì)充分接觸,并用夾具固定好,防止溫度計晃動。
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零點校準:將恒溫槽溫度設(shè)定為 0℃,待溫度穩(wěn)定后,觀察壓力式溫度計的指針是否指在 0 刻度位置。若有偏差,可通過調(diào)整溫度計的調(diào)零旋鈕使其指針指向 0 刻度。
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多點校準:在壓力式溫度計的測量范圍內(nèi),均勻選取至少 3 個溫度點進行校準,如測量范圍為 0℃~100℃,可選取 25℃、50℃、75℃這三個溫度點。將恒溫槽分別設(shè)定到選定的溫度點,每個溫度點穩(wěn)定后,記錄標準溫度計的示值和壓力式溫度計的示值。
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偏差計算:計算壓力式溫度計在各校準點的偏差,偏差 = 壓力式溫度計示值 - 標準溫度計示值。根據(jù)偏差情況判斷壓力式溫度計是否符合精度要求。
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重復(fù)性測試:對每個校準點進行多次測量,一般不少于 3 次,計算每次測量的偏差,觀察偏差的變化情況,評估壓力式溫度計的重復(fù)性。重復(fù)性應(yīng)滿足相關(guān)標準或技術(shù)要求,通常要求重復(fù)性誤差不超過其允許誤差
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工作用輻射溫度計**結(jié)構(gòu)與工作流程
(1) 光學(xué)系統(tǒng)
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紅外透鏡/反射鏡:聚焦目標物體發(fā)出的紅外輻射至探測器。透鏡材料需透紅外光(如鍺、硒化鋅),避免普通玻璃對紅外線的吸收。
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視場角與距離系數(shù)(D:S):決定測量區(qū)域大小,例如D:S=12:1表示在12cm距離下測量1cm直徑區(qū)域。
(2) 探測器
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熱電堆(Thermopile):利用溫差電效應(yīng)將紅外輻射轉(zhuǎn)換為電壓信號,無需制冷,成本低(常用類型)。
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光電導(dǎo)型探測器(如InGaAs、HgCdTe):對特定波長敏感,需制冷以提高靈敏度,用于高精度場合。
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熱釋電探測器:響應(yīng)速度快,適合動態(tài)測溫。
(3) 信號處理與溫度計算
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信號放大與濾波:探測器輸出的微弱電信號經(jīng)放大和濾波(抑制環(huán)境干擾)。
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發(fā)射率(ε)校正:實際物體非理想黑體(ε<1),需根據(jù)材料設(shè)置發(fā)射率(如拋光金屬ε≈0.1,氧化金屬ε≈0.8,人體皮膚ε≈0.98)。
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溫度反演算法:通過斯特藩-玻爾茲曼公式或分波長亮度法計算溫度值。
(4) 顯示與輸出
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溫度顯示:LCD屏幕直接顯示溫度值(℃/℉可切換)。
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數(shù)據(jù)接口:RS-232、USB或無線傳輸至計算機或PLC系統(tǒng)。
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