相控陣工作原理：通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高。相控陣探頭應(yīng)用系統(tǒng)利用了波動(dòng)物理學(xué)的相位調(diào)整原理。超聲相控陣探頭銷售廠家
相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：晶片數(shù)量：較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片，有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多，聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng)，同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大，然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì)，以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。超聲波相控陣探頭批發(fā)廠家由相控陣探頭產(chǎn)生的聲波會(huì)沿直線傳播，直到遇到材料介質(zhì)的邊緣。
相控陣探頭的應(yīng)用方法有哪些？管材檢測(cè)：管材缺陷大多同管子軸線相平行，因此，管材的超聲波相控陣檢測(cè)以沿管子外徑作周向掃查的斜角檢測(cè)為主。目前，進(jìn)出口無(wú)縫鋼管超聲波相控陣檢驗(yàn)主要采用直接接觸法和水浸法。水浸法：探頭發(fā)射的超聲波相控陣經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)方法稱為液浸法，通常采用水浸法。水浸法便于提高掃查速度，縮短檢驗(yàn)試件，特別是中小口徑的無(wú)縫鋼管，要對(duì)全長(zhǎng)全周進(jìn)行掃查，水浸法特別有利。通常采用單探頭縱波水浸法檢測(cè)縱向分層。檢測(cè)前確定好入射角，計(jì)算好折射角，并選擇合適的偏心距。為控制折射角的擴(kuò)散，通常采用聚焦探頭。水浸法在工廠在線檢驗(yàn)中應(yīng)用普遍，在實(shí)際檢驗(yàn)檢疫過(guò)程中由于受條件制約，應(yīng)用得比較少。
相控陣探頭的應(yīng)用特點(diǎn)：超聲相控陣的兩個(gè)重要特性是偏轉(zhuǎn)和聚焦,這些特性在理論上的實(shí)現(xiàn)都是基于波的疊加和干涉以及惠更斯原理。相控陣探頭根據(jù)晶片的排布可以分成環(huán)陣、一維線陣、扇形環(huán)陣、二維矩陣、曲率線陣等。超聲相控陣技術(shù)在掃查方式上主要分為線性掃查、扇形掃查、動(dòng)態(tài)深度聚焦等,在顯示方式上分為A顯示、B顯示、C顯示、D顯示、S顯示等。上世紀(jì)80年代,出現(xiàn)了工業(yè)用相控陣系統(tǒng),這種系統(tǒng)非常的大,需要把數(shù)據(jù)傳入電腦來(lái)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和圖像展示,至少需要兩個(gè)人來(lái)操作。這類設(shè)備大部分都是用在在役電站的檢查中,特別是核電領(lǐng)域。上世紀(jì)90年代以來(lái),隨著電子和軟件技術(shù)的發(fā)展,依靠低功率的電子元件、低能耗的結(jié)構(gòu),結(jié)合微處理器技術(shù),使得電池驅(qū)動(dòng)的相控陣設(shè)備的產(chǎn)生成為可能。不同的相控陣探頭陣列排布方式將會(huì)產(chǎn)生不同的聲場(chǎng)特性。
相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：聲衰減和聲散射的數(shù)學(xué)理論較為復(fù)雜。聲束經(jīng)過(guò)特定聲程時(shí)出現(xiàn)衰減而引起的波幅損失是材料吸收和聲波散射共同作用的結(jié)果。吸收程度會(huì)隨著頻率的增加而呈線性增加，而散射情況則根據(jù)波長(zhǎng)對(duì)晶粒邊界大小的比率，或?qū)ζ渌⑸潴w的比率，在通過(guò)3個(gè)區(qū)域時(shí)會(huì)發(fā)生變化。在所有情況下，散射程度都會(huì)隨頻率的更加而增強(qiáng)。在某種特定的溫度下，以某種特定的頻率進(jìn)行檢測(cè)的某種特定的材料，都有一個(gè)特定的衰減系數(shù)，這個(gè)系數(shù)通常以Np/cm為單位表示，即每厘米耗損的奈培。相控陣探頭按陣列形式通常可分為線形、矩陣形、環(huán)形和扇形等等。雙線陣相控陣探頭售價(jià)
用戶對(duì)相控陣探頭的類型選擇需要考慮到被測(cè)材料的表面粗糙度。超聲相控陣探頭銷售廠家
相控陣探頭有著各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量，所有這些探頭的共同特點(diǎn)是都裝有一個(gè)被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復(fù)合材料構(gòu)建，具體地說(shuō)就是許多細(xì)小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會(huì)復(fù)雜一些，但是與在其它方面設(shè)計(jì)相似的壓電陶瓷探頭相比，這種復(fù)合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)高出10dB到30dB。分成小段的金屬鍍層用于將條狀的復(fù)合材料分割成若干可單獨(dú)接收電子脈沖激勵(lì)的晶片個(gè)體。這個(gè)被分割成小段的晶片被裝入探頭組合件中。探頭組合件包含一個(gè)保護(hù)性匹配層、一個(gè)背襯層、線纜連接器以及一個(gè)外殼。超聲相控陣探頭銷售廠家
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