浙江電磁波近場(chǎng)輻射掃描儀

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2021-12-20

近場(chǎng)探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中,使用經(jīng)過(guò)各類(lèi)校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測(cè)試,都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射泄漏測(cè)試,可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測(cè)件是否符合相應(yīng)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試無(wú)法告訴工程師,嚴(yán)重的輻射問(wèn)題到底是來(lái)自于殼體的縫隙,還是來(lái)自連接的電纜,或USB,LAN之類(lèi)的通信接口。在這種情況下,我們可以通過(guò)近場(chǎng)測(cè)試的方法來(lái)定位輻射的真正來(lái)源。電磁場(chǎng)是由電場(chǎng)和磁場(chǎng)構(gòu)成。在近場(chǎng),電場(chǎng)和磁場(chǎng)共同存在,其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場(chǎng)為主還是磁場(chǎng)為主,主要是由發(fā)射源的類(lèi)型決定的。簡(jiǎn)而言之,在高電壓,低電流的區(qū)域,電場(chǎng)大于磁場(chǎng)。高電流,低電壓的區(qū)域,磁場(chǎng)大于電場(chǎng)。同時(shí)在主要的EMI測(cè)試頻段,磁場(chǎng)隨著距離的變化要快于電場(chǎng)。對(duì)于通常的天線,輻射近場(chǎng)區(qū)此區(qū)域也稱(chēng)為菲涅爾區(qū)。浙江電磁波近場(chǎng)輻射掃描儀

天線口徑場(chǎng)分布診斷是通過(guò)測(cè)量天線近區(qū)場(chǎng)的分布逆推出天線口徑場(chǎng)分布,從而判斷出口徑場(chǎng)畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元,這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱(chēng)天線口徑分布的分析是可靠的,尤其對(duì)相控陣天線的分析與測(cè)量已有了充分的可信度。天線方向圖副瓣電平在-28~-35dB之間的天線稱(chēng)為低副瓣天線;副瓣電平小于-40dB的天線稱(chēng)為很低副瓣天線。對(duì)它們的測(cè)量要用到“零探頭”技術(shù),據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo),副瓣電平在-40dB以上時(shí),測(cè)量精度為±3dB,副瓣電平為-55dB時(shí),測(cè)量精度為±5dB。福建家電燈具近場(chǎng)輻射掃描儀按照與天線距離的遠(yuǎn)近,又把輻射場(chǎng)區(qū)分為輻射近場(chǎng)區(qū)和輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。

平面散射近場(chǎng)測(cè)量的基本理論已由文獻(xiàn)[12~15]給出。其基本原理是綜合平面波法,綜合平面波的基本思想為:如果對(duì)一個(gè)由N個(gè)輻射單元組成的線陣同時(shí)進(jìn)行激勵(lì),每個(gè)輻射單元產(chǎn)生一個(gè)準(zhǔn)球面波e(θ,φ),選擇一個(gè)與方向角(θ,φ)有關(guān)的權(quán)函數(shù)W(θ,φ)對(duì)每個(gè)e(θ,φ)進(jìn)行加權(quán)并求和(線性系統(tǒng)),則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波,對(duì)不同方向的(θ,φ)選擇不同W(θ,φ)就可以獲得不同方向上的平面波對(duì)被測(cè)目標(biāo)的照射。這一過(guò)程實(shí)現(xiàn)了對(duì)平面波的綜合(這與綜合口徑雷達(dá)SAR的概念極為相似),并很容易在計(jì)算機(jī)上完成。

和磁場(chǎng)不一樣,電場(chǎng)是因?yàn)橐苿?dòng)或者靜電荷產(chǎn)生的。通過(guò)這種方式,當(dāng)感受到散熱片或者金屬外殼上的電磁波的時(shí)候,電場(chǎng)會(huì)影響并改變磁場(chǎng)。這種電場(chǎng)效應(yīng)也會(huì)傾向于改變離源頭更遠(yuǎn)的地方(即遠(yuǎn)場(chǎng))。因?yàn)榄h(huán)境因素例如無(wú)線電臺(tái),wifi或者是人為的干擾射頻信號(hào),遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量更容易出現(xiàn)錯(cuò)誤。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量,比如說(shuō)某個(gè)兼容測(cè)試的信號(hào)發(fā)射部分的表現(xiàn)測(cè)量,會(huì)比近場(chǎng)測(cè)量需要更復(fù)雜的設(shè)備和更豐富的知識(shí)。通過(guò)測(cè)量由導(dǎo)體產(chǎn)生的電磁場(chǎng)的相位和頻率,我們可以找出導(dǎo)致EMI問(wèn)題的高電勢(shì)點(diǎn)。輻射強(qiáng)度的衰減要比感應(yīng)場(chǎng)慢得多。

散射近場(chǎng)測(cè)量:當(dāng)輻射體變?yōu)樯⑸潴w時(shí),輻射近場(chǎng)測(cè)量轉(zhuǎn)換為散射近場(chǎng)測(cè)量。由于散射體是無(wú)源的,因此需要一個(gè)照射源對(duì)其進(jìn)行照射,同輻射近場(chǎng)測(cè)量一樣,散射近場(chǎng)測(cè)量也有3種取樣方式,分別稱(chēng)為平面散射近場(chǎng)測(cè)量和柱面散射近場(chǎng)測(cè)量以及球面散射近場(chǎng)測(cè)量。平面散射近場(chǎng)已取得了許多研究成果,柱面、球面散射近場(chǎng)測(cè)量的研究成果公開(kāi)報(bào)道的文獻(xiàn)很少。散射體的散射特性通常用雷達(dá)散射截面(RadarCrossSection,簡(jiǎn)寫(xiě)為RCS)來(lái)衡量,有一定量和相對(duì)量之分,一定量一般是以一個(gè)已知散射體的RCS為標(biāo)準(zhǔn)來(lái)標(biāo)定待測(cè)散射體的RCS,標(biāo)準(zhǔn)值來(lái)自理論計(jì)算和測(cè)量值;相對(duì)量用散射方向圖來(lái)表示。過(guò)渡區(qū)是指近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)之間的部分(有些模型沒(méi)有定義過(guò)渡區(qū))。重慶 干擾源近場(chǎng)輻射分析儀價(jià)格

距離天線一定范圍內(nèi),電場(chǎng)和磁場(chǎng)基本為平面并以直角相交。浙江電磁波近場(chǎng)輻射掃描儀

輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的,研究結(jié)果表明:輻射近場(chǎng)測(cè)量的主要誤差源為18項(xiàng),大致分為4個(gè)方面,即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測(cè)量系統(tǒng)誤差以及測(cè)量環(huán)境誤差。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析已經(jīng)完成,計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出;柱面、球面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析尚未完成。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量而言,由基本理論可知,在θ=-90°或90°(θ為場(chǎng)點(diǎn)偏離天線口面法線方向的方向角)時(shí),這種方法的精度明顯變差,因此平面輻射近場(chǎng)測(cè)量適用于天線方向圖為單向筆形波束天線的測(cè)量,可信域(-θ,θ)中的θ值與近場(chǎng)掃描面和取樣間距有如下關(guān)系(一維情況):θ=arctg[(L-X)/2d],式中L為掃描面的尺寸;X為天線口徑面的尺寸;d為掃描面到天線口徑面的距離。浙江電磁波近場(chǎng)輻射掃描儀

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