我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對(duì)策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多很好EMI工程師在其對(duì)策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測(cè)或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。將桌子轉(zhuǎn)到待測(cè)(EUT)很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷測(cè)試儀
各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)減小或消失﹐若會(huì)減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機(jī)器接頭的密合度﹐這一點(diǎn)也是實(shí)測(cè)上很容易被疏忽﹐而會(huì)誤判機(jī)器的EMI為何每次測(cè)時(shí)好時(shí)壞﹐或花許多時(shí)間在其它的對(duì)策上面。武漢PCB板EMI診斷測(cè)試方式問題信號(hào)發(fā)生的越頻繁,問題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。
以往我們常看到談EMI對(duì)策離不開屏蔽(Shielding),濾波(Filter),接地(Grounding)﹐對(duì)于接地往往一塊電路板多已固定﹐而無法再做處理﹐因?yàn)檫@一部份在電路板布線(Layout)時(shí)就須仔細(xì)考慮﹐若板子已完成則此時(shí)可變動(dòng)的空間就非常小﹐一般方式只能找出噪聲小的接地處用較粗的地線連接﹐減低共模(Commonmode)噪聲。屏蔽所牽涉的材質(zhì)與花費(fèi)亦甚高﹐濾波的方式則是??梢夿ead電感等﹐往往用了一大堆亦不甚見效﹐何以如此﹐許多時(shí)候是我們沒有解決其輻射的天線效應(yīng)。一般而言﹐噪聲的能量并不會(huì)因加一些對(duì)策組件便消失﹐也就是能量不減﹐我們所要做的工作是如何避免噪聲輻射到空間(輻射測(cè)試)或由電源傳出(傳導(dǎo)測(cè)試)。
測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的,你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無法復(fù)制這些條件。舉例來說,待測(cè)設(shè)備(DUT)可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上,以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的,因?yàn)樗苤甘締栴}發(fā)生的DUT區(qū)域?;蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過的射頻房?jī)?nèi)開展他們的測(cè)量,并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是,你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同,可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問題源并估計(jì)糾正有效性來開展問題的排查工作。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法,用來檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。
許多頻譜分析儀重量輕,可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)以對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)觀察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等,探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出很大輻射區(qū)域,要求探頭靈敏度不要太高,通常,一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外,應(yīng)注意近場(chǎng)探頭探測(cè)過程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大,但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是,準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值,永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷測(cè)試儀
示波器是硬件設(shè)計(jì)工程師常用的儀器,它增強(qiáng)了研發(fā)階段的EMI排查能力。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷測(cè)試儀
通常EMI部門或外部實(shí)驗(yàn)室一開始是使用簡(jiǎn)單的峰值檢測(cè)器執(zhí)行掃描來發(fā)現(xiàn)問題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號(hào)超過或接近規(guī)定極限時(shí),他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法,用來檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán),以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比,發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。換句話說,問題信號(hào)發(fā)生的越頻繁,問題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷測(cè)試儀