相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：類型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類型，與塑料楔塊、平直塑料靴或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。線陣是目前相控陣探頭中應(yīng)用較多的一種形式。河北菊花陣相控陣探頭銷售相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪...

相控陣成像的基本原理常規(guī)超聲儀器和相控陣超聲儀器都使用高頻聲波，核查被測(cè)樣件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)或測(cè)量樣件的厚度。它們都以物理學(xué)中支配聲波傳播的相同的基本法則為基礎(chǔ)。相控陣工作原理：通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。較常用的相控陣探頭一般有16到1...

相控陣工作原理：通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高。線陣是目前相控陣探頭中應(yīng)用較多的一種形式。河北圓環(huán)陣相控陣探頭工廠相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些？分...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：超聲相控陣系統(tǒng)可被用于幾乎任何在傳統(tǒng)意義上可以使用常規(guī)超聲探傷儀的檢測(cè)應(yīng)用中。焊縫檢測(cè)和裂縫探測(cè)為兩項(xiàng)重要的應(yīng)用，因?yàn)樵诎ê娇蘸教?、電力生產(chǎn)、石油化工、金屬坯材和管件商品供應(yīng)、輸運(yùn)管線建造與維護(hù)、結(jié)構(gòu)金屬，以及一般制造業(yè)在內(nèi)的各種工業(yè)領(lǐng)域中都會(huì)用到這兩項(xiàng)檢測(cè)。相控陣技術(shù)還可有效地用于腐蝕測(cè)量應(yīng)用，以縱剖面圖形式表現(xiàn)材料的剩余壁厚。相控陣技術(shù)優(yōu)于常規(guī)超聲技術(shù)之處在于它可以使用單個(gè)探頭組合件中的多個(gè)晶片使聲束進(jìn)行偏轉(zhuǎn)、聚焦和掃查。不同的相控陣探頭陣列排布方式將會(huì)產(chǎn)生不同的聲場(chǎng)特性。河南水楔塊相控陣探頭廠商相控陣探頭有著各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量，所有這些探頭的共同特點(diǎn)是...

相控陣探頭的應(yīng)用：相控陣探傷儀通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。相控陣技術(shù)優(yōu)勢(shì)：掃查裝置簡單，便于操作和維護(hù)；使用更便捷，對(duì)人體無傷害，對(duì)環(huán)境無污染；檢測(cè)結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲(chǔ)存、管理和調(diào)用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標(biāo)在儀器上操作。可以節(jié)省許多成本費(fèi)用，一探頭+各角度楔塊的多用處，可以自動(dòng)生成圖文缺陷報(bào)告，若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報(bào)告到數(shù)據(jù)中心查閱。大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類型。凸陣相控陣探頭價(jià)錢相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：從較基本的意義上說，相控陣系統(tǒng)利用了波動(dòng)物理學(xué)的相位調(diào)整原理，即通過改變一系列超聲脈...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：超聲相控陣系統(tǒng)可被用于幾乎任何在傳統(tǒng)意義上可以使用常規(guī)超聲探傷儀的檢測(cè)應(yīng)用中。焊縫檢測(cè)和裂縫探測(cè)為兩項(xiàng)重要的應(yīng)用，因?yàn)樵诎ê娇蘸教?、電力生產(chǎn)、石油化工、金屬坯材和管件商品供應(yīng)、輸運(yùn)管線建造與維護(hù)、結(jié)構(gòu)金屬，以及一般制造業(yè)在內(nèi)的各種工業(yè)領(lǐng)域中都會(huì)用到這兩項(xiàng)檢測(cè)。相控陣技術(shù)還可有效地用于腐蝕測(cè)量應(yīng)用，以縱剖面圖形式表現(xiàn)材料的剩余壁厚。相控陣技術(shù)優(yōu)于常規(guī)超聲技術(shù)之處在于它可以使用單個(gè)探頭組合件中的多個(gè)晶片使聲束進(jìn)行偏轉(zhuǎn)、聚焦和掃查。相控陣探頭技術(shù)優(yōu)于常規(guī)超聲探頭技術(shù)。池州高清相控陣探頭直銷相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：相控陣技術(shù)作為無損檢測(cè)行業(yè)的新興技術(shù)，起源于醫(yī)療行業(yè)。80年代中期...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：類型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類型，與塑料楔塊、平直塑料靴（即零度楔塊）或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。相控陣探頭的頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭產(chǎn)生的振動(dòng)即為聲波。天津自聚焦相控陣探頭購買相控陣探頭的類型：根...

相控陣探頭較常用線陣探頭。這些相控陣探頭為直線排列，每個(gè)陣元是連接到一個(gè)不同的電子通道，根據(jù)設(shè)計(jì)的性能可采用直接或通過多路復(fù)用器。每一個(gè)陣元可以被開啟或不開啟。儀器利用電子延時(shí)控制各電子通道，發(fā)射和接收的信號(hào)/形式的換能器陣元。對(duì)特定陣元進(jìn)行延遲相對(duì)應(yīng)的設(shè)置，每一個(gè)聚焦法則定義了一個(gè)不同的波束，它具有特定的方向、聚焦距離和橫向分辨率。這種技術(shù)要求在相控陣探頭陣元之間具有非常低的聲學(xué)和電交叉耦合影響，這樣所有的陣元都可以單獨(dú)發(fā)射。一般采用壓電復(fù)合材料，能夠完全適應(yīng)這一特點(diǎn)。相控陣探頭的聲波散射情況會(huì)根據(jù)波長對(duì)晶粒邊界大小的比率發(fā)生變化。河北奧氏體檢測(cè)相控陣探頭銷售相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：從較基本的...

什么是相控陣探頭？陣列是大量的同類物體排列組合的方式。NDT超聲陣列的較簡單的形式應(yīng)該是以增加檢測(cè)的覆蓋范圍和/或提高檢測(cè)速度為目的，將一系列單晶探頭排列在一起的形式。以下為應(yīng)用這種陣列探頭的示例：管件檢測(cè)：在探測(cè)管件的裂縫與分層缺陷，以及測(cè)量管件的總體厚度時(shí)經(jīng)常會(huì)使用多個(gè)探頭。鍛件金屬工件的檢測(cè)：在這種檢測(cè)中，通常需要使用多個(gè)探頭在不同深度聚焦以探測(cè)出以帶狀形式排列的細(xì)小缺陷。復(fù)合材料及金屬檢測(cè)：在材料的表面上線性排列多個(gè)探頭可以提高對(duì)復(fù)合材料中的分層缺陷或金屬中的腐蝕的檢測(cè)能力。進(jìn)行這些檢測(cè)，不只需要高速、多通道超聲設(shè)備帶有適當(dāng)?shù)拿}沖發(fā)生器、接收器，以及可對(duì)每個(gè)通道進(jìn)行處理的邏輯門，還需要...

相控陣探頭有著各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量，所有這些探頭的共同特點(diǎn)是都裝有一個(gè)被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復(fù)合材料構(gòu)建，具體地說就是許多細(xì)小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會(huì)復(fù)雜一些，但是與在其它方面設(shè)計(jì)相似的壓電陶瓷探頭相比，這種復(fù)合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)高出10dB到30dB。分成小段的金屬鍍層用于將條狀的復(fù)合材料分割成若干可單獨(dú)接收電子脈沖激勵(lì)的晶片個(gè)體。這個(gè)被分割成小段的晶片被裝入探頭組合件中。探頭組合件包含一個(gè)保護(hù)性匹配層、一個(gè)背襯層、線纜連接器以及一個(gè)外殼。線陣是目前相控陣探頭中應(yīng)用較多的一種形式。江蘇凸陣...

相控陣探頭的類型：根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類型。在具體應(yīng)用中，被測(cè)材料的特性例如：表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等，都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類型的選擇。尺寸：尺寸是指開啟探頭晶片的直徑，或者晶片的長度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率：頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)，通常用千赫（kHz）或兆赫（MHz）表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。不過，用戶也可以買到頻率范圍在50kHz以下及200MHz以上的商業(yè)探頭。頻率越低，穿透力越強(qiáng)；頻率越高，那么分辨...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：類型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類型，與塑料楔塊、平直塑料靴或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭的靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。池州耐高溫相控陣探頭不同陣列...

超聲相控陣技術(shù)簡介：普通超聲探頭通常由一個(gè)晶片來產(chǎn)生超聲波,其聲束的傳播角度是獨(dú)特的,在實(shí)際檢測(cè)中,為了防止漏檢,通常需要進(jìn)行不同角度的掃查。相控陣探頭是由許多單獨(dú)的晶片構(gòu)成的,每個(gè)晶片都能被單獨(dú)激發(fā)。這些探頭由特殊的裝置驅(qū)動(dòng),能夠在每個(gè)通道單獨(dú)的、同步的發(fā)射和接收信號(hào)。超聲相控陣的一個(gè)重要特性就是可以通過軟件來改變超聲波束的特性。根據(jù)系統(tǒng)軟件設(shè)置,每個(gè)晶片都能通過不同的時(shí)間延時(shí)來開啟,并發(fā)射和接收超聲信號(hào)。另外掃查角度范圍、聚焦深度和焦點(diǎn)尺寸等也都能通過軟件控制。因而在一定程度上克服了常規(guī)超聲由于聲束的方向性造成的在缺陷檢出和定量上的限制。用戶對(duì)相控陣探頭的類型選擇需要考慮到被測(cè)材料的內(nèi)缺陷...

常規(guī)縱波超聲探頭工作的方式如同可發(fā)出高頻機(jī)械振動(dòng)的活塞，探頭產(chǎn)生的這種振動(dòng)即為聲波。在壓電換能器晶片（通常被稱作晶片）被施與電壓時(shí)，垂直于晶片表面的方向會(huì)受壓變形。電壓消失后，一般在一微秒之內(nèi)，晶片反彈，產(chǎn)生機(jī)械能脈沖，形成超聲波。同樣道理，如果晶片受到射入超聲波的壓力，也會(huì)在其表面產(chǎn)生電壓。這樣，同一個(gè)壓電晶片既可以作為超聲脈沖的發(fā)射器，又可以充當(dāng)超聲脈沖的接收器。根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類型。相控陣探頭的穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加。四川圓環(huán)陣相控陣探頭銷售相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：相控陣技術(shù)作為無損檢測(cè)行業(yè)的新興技術(shù)，起源于醫(yī)療行業(yè)。80年代中期，...

相控陣探頭的應(yīng)用：一維線陣是目前相控陣探頭中應(yīng)用較多的一種形式，其特點(diǎn)是能在相控陣的軸平面實(shí)現(xiàn)聲束偏轉(zhuǎn)和軸向聚焦。與一維線陣相比，環(huán)形陣的優(yōu)勢(shì)是能在聲束剖面實(shí)現(xiàn)二維聚焦(一維線陣只能實(shí)現(xiàn)一個(gè)方向上的聲束聚焦)，聲束剖面呈圓形，能獲得較大的能量集中，并且不要求大數(shù)目的陣列，因此其能在采用高頻檢測(cè)時(shí)仍保證較高的穿透力；但環(huán)形陣的缺點(diǎn)是不能進(jìn)行聲束偏轉(zhuǎn)控制，因此主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像和脈沖多普勒體積流量計(jì)中。扇形陣和二維矩陣都可實(shí)現(xiàn)所有方向的聲束偏轉(zhuǎn)和軸向聚焦，扇形陣多用于棒材檢測(cè)，二維矩陣由于加工工藝限制、電路復(fù)雜及制作成本高等原因，仍主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用較少，但其聲束不只能實(shí)現(xiàn)沿晶片排列...

相控陣探頭有著各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量，所有這些探頭的共同特點(diǎn)是都裝有一個(gè)被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復(fù)合材料構(gòu)建，具體地說就是許多細(xì)小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會(huì)復(fù)雜一些，但是與在其它方面設(shè)計(jì)相似的壓電陶瓷探頭相比，這種復(fù)合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)高出10dB到30dB。分成小段的金屬鍍層用于將條狀的復(fù)合材料分割成若干可單獨(dú)接收電子脈沖激勵(lì)的晶片個(gè)體。這個(gè)被分割成小段的晶片被裝入探頭組合件中。探頭組合件包含一個(gè)保護(hù)性匹配層、一個(gè)背襯層、線纜連接器以及一個(gè)外殼。相控陣探頭應(yīng)用系統(tǒng)利用了波動(dòng)物理學(xué)的相位調(diào)整原理。...

超聲相控陣技術(shù)簡介：普通超聲探頭通常由一個(gè)晶片來產(chǎn)生超聲波,其聲束的傳播角度是獨(dú)特的,在實(shí)際檢測(cè)中,為了防止漏檢,通常需要進(jìn)行不同角度的掃查。相控陣探頭是由許多單獨(dú)的晶片構(gòu)成的,每個(gè)晶片都能被單獨(dú)激發(fā)。這些探頭由特殊的裝置驅(qū)動(dòng),能夠在每個(gè)通道單獨(dú)的、同步的發(fā)射和接收信號(hào)。超聲相控陣的一個(gè)重要特性就是可以通過軟件來改變超聲波束的特性。根據(jù)系統(tǒng)軟件設(shè)置,每個(gè)晶片都能通過不同的時(shí)間延時(shí)來開啟,并發(fā)射和接收超聲信號(hào)。另外掃查角度范圍、聚焦深度和焦點(diǎn)尺寸等也都能通過軟件控制。因而在一定程度上克服了常規(guī)超聲由于聲束的方向性造成的在缺陷檢出和定量上的限制。隨著相控陣探頭晶片數(shù)量的增多，聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能...

相控陣工作原理：通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高。隨著聲波在介質(zhì)中的傳播，由超聲波相控陣探頭生成的有組織的波前便會(huì)衰弱下來。四川高速相控陣探頭價(jià)錢相控陣探頭...

相控陣探頭的比較分類：相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓，線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊，系統(tǒng)通過入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近，減少測(cè)量誤差。相控陣探頭扇形掃查：調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度，例如：扇形掃查范圍為30°-70°，調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊，前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的較大反射回波，固定探頭，分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”，較后確定完成聲速校準(zhǔn)。相控陣探頭線性掃查：移動(dòng)探頭...

相控陣探頭的比較分類：相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓，線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊，系統(tǒng)通過入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近，減少測(cè)量誤差。相控陣探頭扇形掃查：調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度，例如：扇形掃查范圍為30°-70°，調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊，前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的較大反射回波，固定探頭，分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”，較后確定完成聲速校準(zhǔn)。相控陣探頭線性掃查：移動(dòng)探頭...

相控陣探頭的類型：根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類型。在具體應(yīng)用中，被測(cè)材料的特性，如：表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等，都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類型的選擇。尺寸：尺寸是指開啟探頭晶片的直徑，或者晶片的長度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率：頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)，通常用千赫（kHz）或兆赫（MHz）表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。不過，用戶也可以買到頻率范圍在50kHz以下及200MHz以上的商業(yè)探頭。頻率越低，穿透力越強(qiáng)；頻率越高，那么分辨...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：從較基本的意義上說，相控陣系統(tǒng)利用了波動(dòng)物理學(xué)的相位調(diào)整原理，即通過改變一系列超聲脈沖的發(fā)射時(shí)間，使陣列中的每個(gè)晶片生成的單個(gè)波前交匯在一起。這個(gè)操作以可以預(yù)見的方式加強(qiáng)或減弱聲波的能量，從而使聲波有效地偏轉(zhuǎn)并形成聲束。要達(dá)到這個(gè)目的，需要以極小的時(shí)間差分別對(duì)探頭的晶片進(jìn)行脈沖觸發(fā)。通常將晶片分組進(jìn)行脈沖發(fā)射，每組包含4到32個(gè)數(shù)量不等的晶片。通過加長孔徑的方法，可以減少不希望發(fā)生的聲束擴(kuò)散，完成銳利度更強(qiáng)的聚焦，從而有效地提高靈敏度。大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類型。河南自聚焦相控陣探頭訂購超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)已被成功應(yīng)用于各種焊縫探傷,如航空薄鋁板摩擦焊縫的微小缺陷探測(cè)...

我們可以將這種較簡單的相控陣探頭的排列形式想象成包裝為一體的一系列單個(gè)晶片，實(shí)際情況是這些晶片要比常規(guī)探頭小得多，脈沖可以對(duì)這些被編成組的晶片進(jìn)行激勵(lì)，以產(chǎn)生可直接進(jìn)行控制的波前。這種“電子聲束形成”的方式可以在不移動(dòng)探頭的情況下高速對(duì)多個(gè)檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)與分析。相控陣探頭可以有各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量，所有這些探頭的共同特點(diǎn)是都裝有一個(gè)被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復(fù)合材料構(gòu)建，具體地說就是許多細(xì)小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會(huì)復(fù)雜一些，但是與在其它方面設(shè)計(jì)相似的壓電陶瓷探頭相比，這種復(fù)合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)...

凹面陣相控陣探頭：凹面陣多用于管道的外檢測(cè)，因其能很好地匹配相同曲率管子的外徑，并且其陣列的排列方式有物理聚焦的特點(diǎn)，聲束比平面陣列更加容易匯聚。凸面陣能很好地匹配相同曲率管子的內(nèi)徑，但在陣列凸面排列的狀態(tài)下，聲場(chǎng)旁瓣十分明顯，特別是小徑管中的聚焦聲場(chǎng)更容易向空間擴(kuò)散；凸面陣多用于醫(yī)學(xué)B超超聲診斷領(lǐng)域。在工業(yè)方面，國內(nèi)已有部分學(xué)者對(duì)凸面陣探頭進(jìn)行了開發(fā)應(yīng)用，但總體研究并不多。除了陣列排布方式、延時(shí)法則之外，超聲相控陣探頭的檢測(cè)能力還與探頭盲區(qū)大小、中心頻率、發(fā)射脈沖寬度、楔塊的選擇、耦合介質(zhì)、試件表面平整度等因素有關(guān)。因此，針對(duì)一些特殊的檢測(cè)對(duì)象，調(diào)整其中的某些因素，便可以獲得不同用途的超聲相...

相控陣探頭的比較分類：相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓，線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊，系統(tǒng)通過入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近，減少測(cè)量誤差。相控陣探頭扇形掃查：調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度，例如：扇形掃查范圍為30°-70°，調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊，前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的較大反射回波，固定探頭，分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”，較后確定完成聲速校準(zhǔn)。相控陣探頭線性掃查：移動(dòng)探頭...

相控陣探頭的應(yīng)用：利用相控陣進(jìn)行小口徑奧氏體管焊縫檢測(cè),這類焊縫都是氣焊的,輪廓是接近垂直的,管焊縫的壁是很薄的,管道之間的空間非常狹小。檢測(cè)這類焊縫要采用手動(dòng)掃查或者小型的掃查器,同時(shí)由于安全方面的原因,在應(yīng)用中是不允許使用射線的。這項(xiàng)應(yīng)用需要快速而可靠的檢測(cè)方法,并且保證所有數(shù)據(jù)被記錄。奧氏體不銹鋼管焊縫的檢測(cè)可以利用兩個(gè)陣列來產(chǎn)生橫波,在掃查上使用線性掃查和并采用編碼器記錄數(shù)據(jù),另外在掃查上也能使用扇掃,并且數(shù)據(jù)以C掃描的形式顯示。利用常規(guī)自動(dòng)超聲技術(shù)檢測(cè)核電站管道焊縫的晶間應(yīng)力腐蝕裂紋需要在焊縫兩側(cè)進(jìn)行至少五次掃查,每一次的掃查方式都是柵格掃查,需要花費(fèi)大量的時(shí)間和人力。相控陣檢測(cè)可以...

超聲相控陣技術(shù)簡介：普通超聲探頭通常由一個(gè)晶片來產(chǎn)生超聲波,其聲束的傳播角度是獨(dú)特的,在實(shí)際檢測(cè)中,為了防止漏檢,通常需要進(jìn)行不同角度的掃查。相控陣探頭是由許多單獨(dú)的晶片構(gòu)成的,每個(gè)晶片都能被單獨(dú)激發(fā)。這些探頭由特殊的裝置驅(qū)動(dòng),能夠在每個(gè)通道單獨(dú)的、同步的發(fā)射和接收信號(hào)。超聲相控陣的一個(gè)重要特性就是可以通過軟件來改變超聲波束的特性。根據(jù)系統(tǒng)軟件設(shè)置,每個(gè)晶片都能通過不同的時(shí)間延時(shí)來開啟,并發(fā)射和接收超聲信號(hào)。另外掃查角度范圍、聚焦深度和焦點(diǎn)尺寸等也都能通過軟件控制。因而在一定程度上克服了常規(guī)超聲由于聲束的方向性造成的在缺陷檢出和定量上的限制。由相控陣探頭產(chǎn)生的聲波會(huì)沿直線傳播，直到遇到材料介質(zhì)...

相控陣探頭的聲束形狀：我們用以下這個(gè)比喻可以有效地說明這個(gè)概念。發(fā)自典型的未聚焦圓盤探頭的聲束經(jīng)常被想象成一束源自開啟晶片區(qū)域的能量柱，這個(gè)能量柱在直徑方向上擴(kuò)散，后消失。探頭的聲場(chǎng)被分為兩個(gè)區(qū)域：近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)。近場(chǎng)是指接近探頭的區(qū)域。在這個(gè)區(qū)域中聲壓反復(fù)幾次達(dá)到大值、小值。這個(gè)區(qū)域的終端為軸上后一次出現(xiàn)大聲壓值的位置。這個(gè)位置到探頭表面的距離表示為N，即近場(chǎng)距離。近場(chǎng)距離N證明探頭的自然焦距。遠(yuǎn)場(chǎng)是近場(chǎng)距離（N值）以外的區(qū)域。在這個(gè)區(qū)域，隨著聲束直徑的擴(kuò)展及聲能的消散，聲壓逐漸降低為零。近場(chǎng)距離是探頭頻率、晶片大小以及被測(cè)材料的聲速互相作用的一個(gè)函數(shù)。相控陣探頭的頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周...

凹面線性相控陣探頭是一種重要的相控陣探頭陣列，在實(shí)際應(yīng)用中往往會(huì)起到很好的探測(cè)效果，如棒材（或管材）質(zhì)量的在線檢測(cè)問題，常規(guī)的超聲檢測(cè)方法需要超聲波相控陣探頭或棒材不斷地旋轉(zhuǎn)，而采用凹面的相控陣探頭，通過陣元之間的不同組合使聲束快速地旋轉(zhuǎn)并查掃到各個(gè)部位。目前，上已有利用凹面相控陣探頭對(duì)棒材檢測(cè)的商業(yè)儀器，主要采取線性查掃和扇形查掃的方式來確定是否存在缺陷。利用凹面線陣，對(duì)棒材（或管材）檢測(cè)時(shí)具有更好的聚焦效果。超聲相控陣檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)在于，通過軟件還可控制聚焦聲束的角度、聚焦距離以及焦點(diǎn)大小，同時(shí)由于掃描的聲束是聚焦產(chǎn)生的，所以能夠檢測(cè)到分散在不同角度的裂紋，而且能夠在相控陣探頭不移動(dòng)或少移動(dòng)情...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：超聲相控陣技術(shù)可以檢測(cè)電站汽輪機(jī)葉根的應(yīng)力腐蝕裂紋。汽輪機(jī)的幾何形狀比較復(fù)雜,被檢工件的接觸面有限,在檢測(cè)時(shí)需要保證缺陷漏檢率越小越好,利用超聲相控陣技術(shù)可以根據(jù)應(yīng)用來優(yōu)化探頭設(shè)計(jì),依據(jù)聲線追蹤功能來改進(jìn)掃查工藝,同時(shí)還能使用相對(duì)較高的探頭頻率,利用CAD覆蓋功能直觀的顯示缺陷的位置,利用扇形掃查可以進(jìn)行多角度的掃查,因此相比常規(guī)超聲來說,檢出率要高,另外由于采用電子掃查取代柵格掃查,因此檢測(cè)速度要快得多。長期以來,接管的檢測(cè)主要采用常規(guī)超聲的方法,由于接管幾何形狀的復(fù)雜性需要考慮儀器的設(shè)置,接管的壁厚以及曲率效應(yīng)的影響,加上常規(guī)超聲的A掃顯示方式,因此判讀接管缺陷需要耗...