日本愛比特,i-bit微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng) 3D自動(dòng)X射線檢測(cè)
小型密閉管式X射線裝置,達(dá)成幾何學(xué)倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分層攝影法而是運(yùn)用第三種檢查方式 X射線立體方式.能夠節(jié)省檢查成本
型號(hào):FX-300fRXz with cT
用途:以往運(yùn)用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發(fā)的r3D-X射線立體方式能夠?qū)⒈趁婊遒N裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。與以往的X射線CT方式不同不需要斷層圖像所以能夠做高速處理。
微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),檢測(cè)焊縫的圖像處理與缺陷識(shí)別,歡迎咨詢上海晶珂機(jī)電設(shè)備有限公司。江西Void(汽泡)X射線檢測(cè)
檢測(cè)基板焊點(diǎn)的焊錫不足、焊接不良、焊錫短路等問題。選 上海晶珂銷售的日本愛比特,i-bit微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)。使用3D-X射線立體方式的自動(dòng)在線檢查來降低成本!!3次元立體有式在線射線檢查設(shè)備LX-1100/2000傳檢李意購度些裝基板因?yàn)槁a部位都在駕這是一種在線型檢查設(shè)奇,可自動(dòng)以在線方式用X光進(jìn)行安裝基板焊錢慢錫部位在零件底部的部件的檢查件底部(FACEDOWN)所以從外觀無法檢查。**為適宜QFN/SONX射線立體方式特征運(yùn)用X射線立體方式可進(jìn)行BGA等底面的焊錫部位的檢查可以不受到雙面安裝基板背面的影響進(jìn)行檢查采用X射線立體方式可進(jìn)行3D的CT斷層掃描檢查能夠?qū)?yīng)小型基板(50x50mm)到Lsize(510x460mm)安全設(shè)計(jì),不需要具備X射線操作資格小型可省空間進(jìn)行在線檢查印刷電路板X射線檢測(cè)品牌排行榜微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)用于封裝元器件、電子連接器模組檢測(cè)、印刷電路板焊點(diǎn)檢測(cè)等行業(yè)。
上海晶珂銷售的日本愛比特微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),本裝置使用X射線針對(duì)于硅晶片內(nèi)部的結(jié)晶缺陷之空隙進(jìn)行自動(dòng)檢查2隨然用紅外線也能夠做同樣的檢查,但是難以做低電阻的硅晶片檢查,并且需要完成**終制造過程的拋光過的硅晶圓片才能做精度高的檢測(cè)。用X射線檢查不需要這些條件,研磨前的狀態(tài)(剛切片后)也能夠檢查并且與硅晶圓片有無電阻值無關(guān)都可以進(jìn)行檢查3可檢查的硅晶圓片尺寸為12英寸,及8英寸(6英寸為選配功能)4關(guān)于安全性:不需要X射線操作人員資格,因?yàn)閄射線會(huì)被完全遮蔽,所以能夠安全的使用
上海晶珂銷售的i-bit品牌的微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)具有X射線焦點(diǎn)0.25um高解像度的解析用X射線觀察裝置X射線觀察裝置WAFERBUMP(晶圓凸塊)的外IX-1610幾何學(xué)倍率:2000倍X射線焦點(diǎn)徑:0.25um具有世界比較高等級(jí)的X射線分辨率,附帶有不良解析功能的X射線觀察裝置1X-1610特征D160KV0.2mA,0.25um開放型采用Microfocus(微調(diào)聚焦)X射線管世界**小的X射線焦點(diǎn)尺寸(0.25um)2幾何學(xué)倍率:2,000倍3采用穿透型靶材4采用280萬畫素X射線數(shù)碼1.I管G運(yùn)用6軸控制能夠做高機(jī)能觀察及自動(dòng)檢查6付360轉(zhuǎn)盤,自動(dòng)修正樣品位置相機(jī)具有60傾斜功能自動(dòng)修正樣板位置8自動(dòng)檢查機(jī)能,VOID(焊錫氣泡)檢查錫橋檢查等9內(nèi)置PC,24英寸LCD,付鍵盤(0可對(duì)應(yīng)12英寸硅片上海晶珂公司銷售微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),檢測(cè)焊縫的圖像處理與缺陷識(shí)別。
日本愛比特,i-bit 微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng) 3D自動(dòng)X射線檢測(cè)
雖然小巧,可是能夠達(dá)到幾何光學(xué)倍率900倍是性價(jià)比高的X射線觀察裝置
型號(hào):FX-3OOtR
幾何學(xué)倍率:
900倍熒光屏放大倍率:
5400倍X射線輸出:
90kVX射線焦點(diǎn)徑:5u,15u(切換)
特征;
隨然是小型設(shè)備,但可達(dá)成幾何學(xué)倍率900倍
存儲(chǔ)良品的圖像,可以和現(xiàn)在的圖像做比較
可以將平板相機(jī)傾斜60°做觀察
即使做傾斜觀察也能自動(dòng)追蹤觀察位置(即使相機(jī)傾斜位置點(diǎn)也不會(huì)偏移)
附帶有各種測(cè)定機(jī)能
可追加選項(xiàng)檢查機(jī)能選項(xiàng)功能可對(duì)應(yīng)CT及L尺寸8靶材~試料0.5mm,靶材~X射線相機(jī)450mm:450/0.5=900,幾何學(xué)倍率達(dá)到900倍L尺寸裝置可對(duì)應(yīng)600x600mm的基板 上海晶珂公司銷售X光基板缺陷,氣泡,裂縫等檢測(cè)系統(tǒng),無損檢測(cè)系統(tǒng)。福建導(dǎo)線架狀態(tài)X射線檢測(cè)
i-bit 愛比特 X-ray X射線檢測(cè)設(shè)備 非接觸式無損內(nèi)部檢測(cè)穿過PCB板的基板材料,對(duì)雙層板或多層板進(jìn)行缺陷檢測(cè)。江西Void(汽泡)X射線檢測(cè)
對(duì)應(yīng)大型基板的3D-X射線觀察裝置用X射線立體方式去除安裝基板背面資去除BGA背面資料測(cè)定Void(FX-3OOIRXLL可對(duì)應(yīng)600x600mm的大型基板幾何學(xué)倍率:達(dá)到1,000倍X射線輸出:20-90KvX射線焦點(diǎn)徑:5um,15um運(yùn)用X射線立體方式消除背面零件的影響(可選擇的追加功能)
概要可對(duì)應(yīng)大型基板的X射線觀察設(shè)備檢查物件看不到的部分可實(shí)時(shí)用X射線穿透進(jìn)行X射線的觀察**適合應(yīng)用于大型印刷電路板,及大型安裝基板等的觀察特征D可***覆蓋600x600mm尺寸的基板2幾何學(xué)倍率:達(dá)到1,000倍3X射線相機(jī)可以任意斜0°~604用觸摸屏和操作桿提高操作性5滑動(dòng)門大型樣品也能輕松設(shè)置6x,Y,Z1(相機(jī)),Z2(X射線),Q軸(傾斜)的5軸操作7用X射線立體方式可除去背面的安裝零件的信息進(jìn)行觀察(可以選擇的追加功能)8轉(zhuǎn)盤能夠?qū)?yīng)400x400mm尺寸的基板(可選擇的追加功能)) 江西Void(汽泡)X射線檢測(cè)
“金屬檢測(cè)機(jī)|雙槳混和機(jī)|多列條狀包裝機(jī)|x射線異物檢測(cè)機(jī)”上海晶珂機(jī)電設(shè)備有限公司,公司位于:浦錦路2049號(hào)萬科VMO, 37號(hào)216室,多年來,上海晶珂機(jī)電堅(jiān)持為客戶提供好的服務(wù)。歡迎廣大新老客戶來電,來函,親臨指導(dǎo),洽談業(yè)務(wù)。上海晶珂機(jī)電期待成為您的長(zhǎng)期合作伙伴!