電纜局部放電監(jiān)測(cè)案例

2.1.6帶數(shù)據(jù)庫功能，***的測(cè)試結(jié)果分析，用戶可通過后端軟件，配合各功能按鍵，分析波形中每點(diǎn)、每段的電阻值和每段的時(shí)間、各時(shí)間段的時(shí)間及三相不同期等，通過分析，可了解切換過程中，每個(gè)瞬間三相開關(guān)各種參數(shù)的變化情況，也可將波形打印、存貯及查閱歷史波形進(jìn)行分析和對(duì)比。2.1.7智能化程度高，方便現(xiàn)場(chǎng)參數(shù)快速輸入，測(cè)試更為便捷。2.1.8自創(chuàng)的***分析系統(tǒng)，可以自動(dòng)診斷OLTC的狀態(tài)。2.1.9分體式結(jié)構(gòu)，主控計(jì)算機(jī)通過網(wǎng)絡(luò)或者USB對(duì)測(cè)試主機(jī)進(jìn)行控制；一體式結(jié)構(gòu)，內(nèi)置大屏幕的三防級(jí)工控型電腦。2.1.10六路**且完全隔離的16bit高精度高速同步測(cè)試通道。2.1.11采用先進(jìn)的軟硬件抗干擾技術(shù)，保證測(cè)試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。變壓器振動(dòng)聲紋監(jiān)測(cè)方法的原理及其在故障診斷中的應(yīng)用。電纜局部放電監(jiān)測(cè)案例

局部放電數(shù)據(jù)分析的重要性

局部放電數(shù)據(jù)的分析，是理解設(shè)備健康狀態(tài)、預(yù)測(cè)潛在故障的關(guān)鍵。通過對(duì)局部放電信號(hào)的特征提取與模式識(shí)別，可以識(shí)別放電類型，評(píng)估絕緣狀態(tài)，為電力設(shè)備的維護(hù)決策提供科學(xué)依據(jù)。這一過程，往往需要專業(yè)的數(shù)據(jù)分析軟件與算法支持。

局部放電與電力設(shè)備的壽命評(píng)估

局部放電不僅影響電力設(shè)備的運(yùn)行安全，也是設(shè)備壽命評(píng)估的重要指標(biāo)。通過持續(xù)監(jiān)測(cè)局部放電活動(dòng)，可以評(píng)估設(shè)備絕緣的老化程度，預(yù)測(cè)設(shè)備的剩余壽命，從而優(yōu)化設(shè)備的維護(hù)策略，延長設(shè)備的使用壽命。 低壓局部放電監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)室局部放電可能源于絕緣材料老化、熱應(yīng)力、電應(yīng)力過載、安裝缺陷或操作不當(dāng)?shù)纫蛩亍?/p>

高壓電力設(shè)備中的局部放電通常是由于絕緣材料內(nèi)部的缺陷或者外部的污染導(dǎo)致局部電場(chǎng)強(qiáng)度超過材料的擊穿強(qiáng)度，從而在絕緣介質(zhì)中形成放電通道。局部放電的機(jī)理可以歸結(jié)為以下幾種基本類型：內(nèi)部缺陷：如氣泡、裂紋、夾雜物或者制造過程中產(chǎn)生的微小孔洞等。當(dāng)電場(chǎng)集中于這些缺陷處時(shí)，可能引發(fā)局部放電。表面缺陷：絕緣表面的污染物（如灰塵、水分）或者劃痕等也可能成為放電起點(diǎn)。表面泄漏電流可以在這些缺陷處形成局部放電。電暈放電：在高壓設(shè)備的尖銳或曲率半徑很小的導(dǎo)體附近，由于強(qiáng)電場(chǎng)作用，空氣被電離形成電暈。電暈放電不僅會(huì)造成能量損失，還可能引發(fā)更嚴(yán)重的絕緣破壞。

長期以來，進(jìn)行變壓器/電抗器OLTC的測(cè)試一直采用直流方法測(cè)試，所獲取的波形與OLTC制造商例行測(cè)試波形進(jìn)行比對(duì)，對(duì)OLTC現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試起到了一定作用。由于OLTC制造商在車間例行測(cè)試是對(duì)裸開關(guān)進(jìn)行測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)是變壓器帶繞組進(jìn)行的測(cè)試，兩者差異很大。直流方法測(cè)試受測(cè)試技術(shù)方法和技術(shù)能力限制，現(xiàn)場(chǎng)OLTC測(cè)試有時(shí)會(huì)出現(xiàn)波形無法判讀等問題，各方面工程技術(shù)人員爭議很大，表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：2.2.1直流測(cè)試法*適用于繞組中性點(diǎn)處并有中性點(diǎn)抽出的OLTC測(cè)試，對(duì)繞組中性點(diǎn)以外其它位置(線端、中部等)處的OLTC及單相變壓器OLTC不能測(cè)試。2.2.2直流測(cè)試由于其測(cè)試原理、技術(shù)能力等原因，有時(shí)測(cè)試獲取的波形與制造商給出的波形差異較大，無法給出準(zhǔn)確分析結(jié)論，OLTC反復(fù)吊出檢查與測(cè)試，影響新設(shè)備、大修后設(shè)備投運(yùn)。為防止OLTC事故，甚至將無法判定OLTC是否存在缺陷的變壓器改做無載調(diào)壓變壓器運(yùn)行。2.2.3部分直流測(cè)試波形異常無法判定OLTC動(dòng)作特性正常，以制造商質(zhì)量承諾投入運(yùn)行，不能保證OLTC的安全運(yùn)行。2.2.4變壓器設(shè)計(jì)上新技術(shù)采用，以及電抗式、真空斷路器式等的OLTC使用，直流測(cè)試方法無法完全滿足現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需要。2.3交流測(cè)試法的特點(diǎn)局部放電不達(dá)標(biāo)可能導(dǎo)致高壓開關(guān)柜出現(xiàn)哪些嚴(yán)重的設(shè)備故障？

局部放電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展離不開產(chǎn)學(xué)研合作。高校和科研機(jī)構(gòu)在局部放電檢測(cè)技術(shù)的基礎(chǔ)研究方面具有優(yōu)勢(shì)，能夠開展前沿技術(shù)的探索和創(chuàng)新。電力設(shè)備制造商和電力公司等企業(yè)則具有豐富的工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和市場(chǎng)需求，能夠?qū)⒖蒲谐晒D(zhuǎn)化為實(shí)際產(chǎn)品和應(yīng)用。通過產(chǎn)學(xué)研合作，可以實(shí)現(xiàn)資源共享、優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)，加速局部放電檢測(cè)技術(shù)的研發(fā)和應(yīng)用推廣。例如，高校和科研機(jī)構(gòu)與企業(yè)合作開展聯(lián)合研發(fā)項(xiàng)目，共同攻克局部放電檢測(cè)中的關(guān)鍵技術(shù)難題。企業(yè)為高校和科研機(jī)構(gòu)提供實(shí)踐平臺(tái)和資金支持，高校和科研機(jī)構(gòu)為企業(yè)培養(yǎng)專業(yè)技術(shù)人才。未來，產(chǎn)學(xué)研合作將更加緊密，推動(dòng)局部放電檢測(cè)技術(shù)不斷取得新的突破，為電力行業(yè)的發(fā)展提供強(qiáng)大的技術(shù)支撐。電應(yīng)力過載引發(fā)局部放電，電力系統(tǒng)的諧波對(duì)其有何影響，如何治理諧波？GIS局部放電檢測(cè)案例

局部放電不達(dá)標(biāo)引發(fā)的設(shè)備故障，對(duì)電力系統(tǒng)的電能質(zhì)量會(huì)產(chǎn)生怎樣的影響？電纜局部放電監(jiān)測(cè)案例

三、遵循標(biāo)準(zhǔn)（但不限于下列標(biāo)準(zhǔn)）2.1GB/T7354高電壓試驗(yàn)技術(shù)局部放電測(cè)量；2.2DL/T417電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量導(dǎo)則；2.3DL/T846.4高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件第4部分：脈沖電流法局部放電測(cè)量儀；2.4DL/T846.10高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件第10部分：暫態(tài)地電壓局部放電檢測(cè)儀；2.5DL/T846.11高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件第11部分：特高頻局部放電檢測(cè)儀；2.6DL/T1250氣體絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備帶電超聲局部放電檢測(cè)應(yīng)用導(dǎo)則；2.7DL/T1416超聲波法局部放電測(cè)試儀通用技術(shù)條件；2.8DL/T1630氣體絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備局部放電特高頻檢測(cè)技術(shù)規(guī)范；2.9Q/GDW11059.1超聲波法局部放電帶電檢測(cè)技術(shù)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用導(dǎo)則電纜局部放電監(jiān)測(cè)案例