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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2020-07-11

能夠讓測(cè)試用的探針觸碰到這種小一點(diǎn),而無(wú)需直接接觸到這些被測(cè)量的電子零件。初期在電路板上面還全是傳統(tǒng)式軟件(DIP)的時(shí)代,確實(shí)會(huì)拿零件的焊孔來(lái)作為測(cè)試點(diǎn)來(lái)用,由于傳統(tǒng)式零件的焊孔夠健壯,不害怕針刺,但是常常會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的錯(cuò)判情況產(chǎn)生,由于一般的電子零件歷經(jīng)波峰焊機(jī)(wavesoldering)或者SMT吃錫以后,在其焊錫絲的表層一般都是會(huì)產(chǎn)生一層助焊膏助焊劑的殘余塑料薄膜,這層塑料薄膜的特性阻抗十分高,經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致探針的接觸不良現(xiàn)象,因此那時(shí)候常常由此可見生產(chǎn)線的測(cè)試操作工,常常拿著氣體噴漆拼了命的吹,或者拿酒精擦拭這種必須測(cè)試的地區(qū)。實(shí)際上歷經(jīng)波峰焊機(jī)的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的難題。之后SMT風(fēng)靡以后,測(cè)試錯(cuò)判的情況就獲得了非常大的改進(jìn),測(cè)試點(diǎn)的運(yùn)用也被較高的地授予重?fù)?dān),由于SMT的零件一般很敏感,沒法承擔(dān)測(cè)試探針的立即接觸壓力,應(yīng)用測(cè)試點(diǎn)就可以無(wú)需讓探針直接接觸到零件以及焊孔,不只維護(hù)零件不受傷,也間接性較高的地提高測(cè)試的靠譜度,由于錯(cuò)判的情況越來(lái)越少了。但是伴隨著高新科技的演變,線路板的規(guī)格也愈來(lái)愈小,小小的地電路板上面光源要擠下這么多的電子零件都早已一些費(fèi)勁了。需要專業(yè)PCB設(shè)計(jì)與生產(chǎn)的廠家?看這里!價(jià)格優(yōu)惠,服務(wù)好!上海單面pcb市場(chǎng)報(bào)價(jià)

主要的信號(hào)完整性問(wèn)題包括:延遲、反射、同步切換噪聲、振蕩、地彈、串?dāng)_等。信號(hào)完整性是指信號(hào)在電路中能以正確的時(shí)序和電壓做出響應(yīng)的能力,是信號(hào)未受到損傷的一種狀態(tài),它表示信號(hào)在信號(hào)線上的質(zhì)量。延遲(Delay)延遲是指信號(hào)在PCB板的導(dǎo)線上以有限的速度傳輸,信號(hào)從發(fā)送端發(fā)出到達(dá)接收端,其間存在一個(gè)傳輸延遲。信號(hào)的延遲會(huì)對(duì)系統(tǒng)的時(shí)序產(chǎn)生影響,傳輸延遲主要取決于導(dǎo)線的長(zhǎng)度和導(dǎo)線周圍介質(zhì)的介電常數(shù)。在高速數(shù)字系統(tǒng)中,信號(hào)傳輸線長(zhǎng)度是影響時(shí)鐘脈沖相位差的較直接因素,時(shí)鐘脈沖相位差是指同時(shí)產(chǎn)生的兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào),到達(dá)接收端的時(shí)間不同步。時(shí)鐘脈沖相位差降低了信號(hào)沿到達(dá)的可預(yù)測(cè)性,如果時(shí)鐘脈沖相位差太大,會(huì)在接收端產(chǎn)生錯(cuò)誤的信號(hào),如圖1所示,傳輸線時(shí)延已經(jīng)成為時(shí)鐘脈沖周期中的重要部分。反射(Reflection)反射就是子傳輸線上的回波。當(dāng)信號(hào)延遲時(shí)間(Delay)遠(yuǎn)大于信號(hào)跳變時(shí)間(TransitionTime)時(shí),信號(hào)線必須當(dāng)作傳輸線。當(dāng)傳輸線的特性阻抗與負(fù)載阻抗不匹配時(shí),信號(hào)功率(電壓或電流)的一部分傳輸?shù)骄€上并到達(dá)負(fù)載處,但是有一部分被反射了。若負(fù)載阻抗小于原阻抗,反射為負(fù);反之,反射為正。山東線路pcb還在為PCB設(shè)計(jì)版圖而煩惱?幫您解決此困擾!出樣速度快,價(jià)格優(yōu)惠,歡迎各位老板電話咨詢!

因此測(cè)試點(diǎn)占有線路板室內(nèi)空間的難題,常常在設(shè)計(jì)方案端與生產(chǎn)制造端中間拔河賽,但是這一議案等之后還有機(jī)會(huì)再說(shuō)談。測(cè)試點(diǎn)的外型一般是環(huán)形,由于探針也是環(huán)形,比較好生產(chǎn)制造,也較為非常容易讓鄰近探針靠得近一點(diǎn),那樣才能夠提升針床的植針相對(duì)密度。1.應(yīng)用針床來(lái)做電源電路測(cè)試會(huì)出現(xiàn)一些組織上的先天性上限定,例如:探針的較少直徑有一定極限,很小直徑的針非常容易斷裂損壞。2.針間間距也是有一定限定,由于每一根針必須從一個(gè)孔出去,并且每根針的后端開發(fā)都也要再電焊焊接一條扁平電纜,假如鄰近的孔很小,除開針與針中間會(huì)出現(xiàn)觸碰短路故障的難題,扁平電纜的干預(yù)也是一大難題。3.一些高零件的邊上沒法植針。假如探針間距高零件太近便會(huì)有撞擊高零件導(dǎo)致?lián)p害的風(fēng)險(xiǎn)性,此外由于零件較高,一般也要在測(cè)試夾具針床座上打孔繞開,也間接性導(dǎo)致沒法植針。電路板上愈來(lái)愈難容下的下全部零件的測(cè)試點(diǎn)。4.因?yàn)槟景逵鷣?lái)愈小,測(cè)試點(diǎn)多少的存廢屢次被拿出來(lái)探討,如今早已擁有一些降低測(cè)試點(diǎn)的方式出現(xiàn),如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等;也是有其他的測(cè)試方式要想替代本來(lái)的針床測(cè)試,如AOI、X-Ray,但現(xiàn)階段每一個(gè)測(cè)試好像都還沒法。

當(dāng)一塊PCB板完成了布局布線,并且檢查了連通性和間距都沒有發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的情況下,一塊PCB是不是就完成了呢?答案當(dāng)然是否定的。很多初學(xué)者,甚至包括一些有經(jīng)驗(yàn)的工程師,由于時(shí)間緊或者不耐煩亦或者過(guò)于自信,往往會(huì)草草了事,忽略了后期檢查,結(jié)果出現(xiàn)了一些很低級(jí)的BUG,比如線寬不夠、元件標(biāo)號(hào)絲印壓在過(guò)孔上、插座靠得太近、信號(hào)出現(xiàn)環(huán)路等等,導(dǎo)致電氣問(wèn)題或者工藝問(wèn)題,嚴(yán)重的要重新打板,造成浪費(fèi)。所以,當(dāng)一塊PCB完成了布局布線之后,后期檢查是一個(gè)很重要的步驟。PCB的檢查包含很多細(xì)節(jié)要素,現(xiàn)在整理了認(rèn)為較基本并且較容易出錯(cuò)的要素,以便在后期檢查時(shí)重點(diǎn)關(guān)注。1.原件封裝2.布局3.布線。我們是PCB設(shè)計(jì)和生產(chǎn)線路板的廠家,提供專業(yè)pcb抄板!快速打樣,批量生產(chǎn)!

傳輸線的端接通常采用2種策略:使負(fù)載阻抗與傳輸線阻抗匹配,即并行端接;使源阻抗與傳輸線阻抗匹配,即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負(fù)載端的位置接上拉或下拉阻抗,以實(shí)現(xiàn)終端的阻抗匹配,根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境,并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類型。(2)串行端接串行端接是通過(guò)在盡量靠近源端的位置串行插入一個(gè)電阻到傳輸線中來(lái)實(shí)現(xiàn),串行端接是匹配信號(hào)源的阻抗,所插入的串行電阻阻值加上驅(qū)動(dòng)源的輸出阻抗應(yīng)大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過(guò)使源端反射系數(shù)為零,從而壓制從負(fù)載反射回來(lái)的信號(hào)(負(fù)載端輸入高阻,不吸收能量)再?gòu)脑炊朔瓷浠刎?fù)載端。不同工藝器件的端接技術(shù)阻抗匹配與端接技術(shù)方案隨著互聯(lián)長(zhǎng)度、電路中邏輯器件系列的不同,也會(huì)有所不同。只有針對(duì)具體情況,使用正確、適當(dāng)?shù)亩私臃椒ú拍苡行У販p少信號(hào)反射。一般來(lái)說(shuō),對(duì)于一個(gè)CMOS工藝的驅(qū)動(dòng)源,其輸出阻抗值較穩(wěn)定且接近傳輸線的阻抗值,因此對(duì)于CMOS器件使用串行端接技術(shù)就會(huì)獲得較好的效果;而TTL工藝的驅(qū)動(dòng)源在輸出邏輯高電平和低電平時(shí)其輸出阻抗有所不同。這時(shí),使用并行戴維寧端接方案則是一個(gè)較好的策略;ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。,專業(yè)PCB設(shè)計(jì),高精密多層PCB板,24小時(shí)快速打樣!安徽電子pcb市場(chǎng)報(bào)價(jià)

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合理進(jìn)行電路建模仿真是較常見的信號(hào)完整性解決方法,在高速電路設(shè)計(jì)中,仿真分析越來(lái)越顯示出優(yōu)越性。它給設(shè)計(jì)者以準(zhǔn)確、直觀的設(shè)計(jì)結(jié)果,便于及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,及時(shí)修改,從而縮短設(shè)計(jì)時(shí)間,降低設(shè)計(jì)成本。常用的有3種:SPICE模型,IBIS模型,Verilog-A模型。SPICE是一種功能強(qiáng)大的通用模擬電路仿真器。它由兩部分組成:模型方程式(ModelEquation)和模型參數(shù)(ModelParameters)。由于提供了模型方程式,因而可以把SPICE模型與仿真器的算法非常緊密地連接起來(lái),可以獲得更好的分析效率和分析結(jié)果;IBIS模型是專門用于PCB板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的數(shù)字信號(hào)完整性分析的模型。它采用I/V和V/T表的形式來(lái)描述數(shù)字集成電路I/O單元和引腳的特性,IBIS模型的分析精度主要取決于1/V和V/T表的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)和數(shù)據(jù)的精確度,與SPICE模型相比,IBIS模型的計(jì)算量很小。上海單面pcb市場(chǎng)報(bào)價(jià)

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