ICT測試治具功能:能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量,對二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進行功能測試,對中小規(guī)模的集成電路進行功能測試,如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動類、交換類等IC。ICT測試治具通過直接對在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯誤等。ICT在線測試儀的技術(shù)應(yīng)用:針床式在線測驗儀長處是測驗速度快。杭州ICT儀器報價
ICT測試治具的測試速度快能帶來哪些好處?由于ICT測試治具的測試速度快,并且相比AOI和AXI能夠提供較為可靠的電性測試,所以在一些大批量進行ICT生產(chǎn)的測試治具廠家企業(yè)中成為了測試的主流設(shè)備。所謂測試治具,就是通過移動的測針進行自由組合靈活的測量PCBA表面上的元件,只需要對每一塊PCBA板制作程序既可測量,另外由于他的測針存在角度,因而他的測試覆蓋率要遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)的治具。對于一些研發(fā)類和對市場敏感度較高的企業(yè),往往在急切研制和推出新產(chǎn)品時,ICT測試治具廠家無法及時上馬,或者頻繁的產(chǎn)品更新,造成大量ICT測試治具針床報廢產(chǎn)生極大的成本浪費.天津在線ICT自動化測試儀器品牌ICT測試治具對工藝類發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。
針床式在線測試儀優(yōu)點是測試速度快,適合于單一品種民用型家電線路板極大規(guī)模生產(chǎn)的測試,而且主機價格較便宜。但是東陽人才網(wǎng)隨著線路板組裝密度的提高,特別是細(xì)間距SMT組裝以及新產(chǎn)品開發(fā)生產(chǎn)周期越來越短,線路板品種越來越多,針床式在線測試儀存在一些難以克服的問題:測試用針床夾具的制作、調(diào)試周期長、價格貴;對于一些高密度SMT線路板由于測試精度問題無法進行測試。產(chǎn)品線過于寬大,導(dǎo)致需要大量不同的ICT測試治具,使得成本急劇上升,正是以上種種原因,在1986年推出了一臺ICT測試治具。
ICT測試治具能檢測元器件的各種缺陷和故障:這種測試是為了確保線路板能否按照設(shè)計要求正常工作。所以功能測試簡單的方法,是將組裝好的某電子設(shè)備上的專門線路板連接到該設(shè)備的適當(dāng)電路上,然后加電壓,如果設(shè)備正常工作,就表明線路板合格。這種方法簡單、投資少,但不能自動診斷故障。ICT測試治具能夠有效地查找在SMT組裝過程中發(fā)生的各種缺陷和故障,但是它不能夠評估整個線路板所組成的系統(tǒng)在時鐘速度時的性能。而功能測試就可以測試整個系統(tǒng)是否能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)計目標(biāo),它將線路板上的被測單元作為一個功能體,對其提供輸人信號,按照功能體的設(shè)計要求檢測輸出信號。ICT測試治具是為了保證線路板能否依照規(guī)劃請求正常作業(yè)。
導(dǎo)致ICT測試冶具測試不良的原因:IC空焊不良(以TestJet測試),測試值偏小,可能原因:1)IC的此腳空焊;2)測試針接觸不良;3)從測試點至IC腳之間Open。4)IC此腳的內(nèi)部不良(可能性極少);測試值偏大,可能原因:1)有短路現(xiàn)象;2)IC此腳的內(nèi)部不良(可能性極少)。導(dǎo)致ICT測試冶具測試不良的原因:元器件不良,測試值偏差超差比較小,則可能原因:1)器件本身的偏差就這么大;2)ICT測試冶具測試針的接觸電阻較大;3)錯件、焊接不良、反裝。測試值偏差超差比較大,則可能原因:1)器件壞掉;2)測試針壞掉(與該針相連的器件均超差比較大)3)測試點上有松香等絕緣物品;4)PCB上銅箔斷裂,或ViaHole與銅箔之間Open。5)錯件、漏件、反裝;6)器件焊接不良。ICT測試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法:T2表示75MIL的探孔;T3表示50MIL的探孔。寧波在線ICT測試治具
ICT測試治具對各商業(yè)有什么作用?1.可以在線的檢測產(chǎn)品,能夠準(zhǔn)確的定位出產(chǎn)品的好壞。杭州ICT儀器報價
ICT測試儀的測試針保養(yǎng):對測試針采用防塵套許多冶具廠提供防塵套以用來預(yù)防空污物掉落在測試針頭與針管上。特別是空置或未使用的冶具。在真空的冶具里,灰塵會沉落在測試板的周圍而當(dāng)使用真空儀時會直接吸入不求上進測試針中。污漬清潔:不建議用溶劑清潔測試針或使用溶劑浸泡來進行污漬清潔。因為溶劑可能會洗去及攜帶微粒進入測試針管和侵害測試針內(nèi)壁的接觸面,不將會引起阻抗的過速上升。保持測試針在清潔的狀態(tài)下是有效的方法來大地減低失敗率。杭州ICT儀器報價
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