二次離子質(zhì)譜（SIMS）能夠?qū)饘俨牧线M行深度剖析，精確分析材料表面及內(nèi)部不同深度處的元素組成和同位素分布。該技術(shù)通過用高能離子束轟擊金屬樣品表面，使表面原子濺射出來并離子化，然后通過質(zhì)譜儀對二次離子進行分析。在半導體制造中，對于金屬互連材料，SIMS 可用于檢測金屬薄膜中的雜質(zhì)分布以及金屬與半導體界面處的元素擴散情況，這對于提高半導體器件的性能和可靠性至關(guān)重要。在金屬材料的腐蝕研究中，SIMS 能夠分析腐蝕產(chǎn)物在材料表面和內(nèi)部的分布，深入了解腐蝕機制，為開發(fā)更有效的腐蝕防護方法提供依據(jù)。
超聲波探傷是一種廣泛應用于金屬材料內(nèi)部缺陷檢測的無損檢測技術(shù)。其原理是利用超聲波在金屬材料中傳播時，遇到缺陷（如裂紋、氣孔、夾雜物等）會發(fā)生反射、折射和散射的特性。探傷儀產(chǎn)生高頻超聲波，并通過探頭將其傳入金屬材料內(nèi)部，然后接收反射回來的超聲波信號。根據(jù)信號的特征，如反射波的幅度、傳播時間等，判斷缺陷的位置、大小和形狀。超聲波探傷具有檢測靈敏度高、檢測速度快、對人體無害等優(yōu)點。在航空航天領域，對金屬結(jié)構(gòu)件進行超聲波探傷至關(guān)重要。例如飛機的機翼、機身等關(guān)鍵部件，在制造和使用過程中，通過定期的超聲波探傷檢測，能及時發(fā)現(xiàn)內(nèi)部可能存在的微小缺陷，避免這些缺陷在飛機飛行過程中擴展導致嚴重的安全事故，保障飛機的飛行安全。
