發(fā)貨地點:浙江省麗水市
發(fā)布時間:2025-04-23
激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)技術(shù)為金屬材料的元素分析提供了一種快速、便捷的現(xiàn)場檢測方法。該技術(shù)利用高能量激光脈沖聚焦在金屬材料表面,瞬間產(chǎn)生高溫高壓等離子體。等離子體中的原子和離子會發(fā)射出特征光譜,通過光譜儀采集和分析這些光譜,就能快速確定材料中的元素種類和含量。LIBS 技術(shù)無需復(fù)雜的樣品制備過程,可直接對金屬材料進(jìn)行檢測,適用于各種形狀和尺寸的樣品。在金屬加工現(xiàn)場、廢舊金屬回收利用等場景中,LIBS 元素分析具有優(yōu)勢。例如在廢舊金屬回收過程中,通過 LIBS 快速檢測金屬廢料中的元素成分,可準(zhǔn)確評估廢料的價值,實現(xiàn)高效分類回收。在金屬冶煉過程中,實時監(jiān)測金屬材料中的元素含量,有助于及時調(diào)整冶煉工藝,保證產(chǎn)品質(zhì)量,提高生產(chǎn)效率。
輝光放電質(zhì)譜(GDMS)技術(shù)能夠?qū)饘俨牧现械暮哿吭剡M(jìn)行高靈敏度分析。在輝光放電離子源中,氬離子在電場作用下轟擊金屬樣品表面,使樣品原子濺射出來并離子化,然后通過質(zhì)譜儀對離子進(jìn)行質(zhì)量分析,精確測定痕量元素的種類和含量,檢測限可達(dá) ppb 級甚至更低。在半導(dǎo)體制造、航空航天等對材料純度要求極高的行業(yè),GDMS 痕量元素分析至關(guān)重要。例如在半導(dǎo)體硅材料中,痕量雜質(zhì)元素會嚴(yán)重影響半導(dǎo)體器件的性能,通過 GDMS 精確檢測硅材料中的痕量雜質(zhì),可嚴(yán)格控制材料質(zhì)量,保障半導(dǎo)體器件的高可靠性和高性能。在航空發(fā)動機(jī)高溫合金中,痕量元素對合金的高溫性能也有影響,GDMS 分析為合金成分優(yōu)化提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)。