上海巴測(cè)電氣電纜超低頻綜合測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

上海巴測(cè)電氣電纜超低頻綜合測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

電纜壽命是30年，國(guó)內(nèi)很多電纜運(yùn)行部門1980年代敷設(shè)的交聯(lián)電纜陸續(xù)進(jìn)入設(shè)備壽命的后期，對(duì)配電網(wǎng)安全運(yùn)行威脅很大。近些年 ，運(yùn)用 0.1 Hz 超低頻介損測(cè)試技術(shù)在配網(wǎng)電纜狀態(tài)檢修方面 獲得 了相應(yīng)程度的運(yùn)用 ，此項(xiàng)測(cè)試技術(shù)也獲得 IEEEStd .400 .的認(rèn)可。

超低頻局放優(yōu)勢(shì)：綜合性價(jià)比高

1. V-45/54/62-PD加壓與局放自動(dòng)分析同步進(jìn)行，每次加壓結(jié)束立即顯示結(jié)果，縣城制定維修策略。
2. 單次校準(zhǔn)，縮短局放測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)工作時(shí)間，有效甄別局放干擾信號(hào)。
3. DAC震蕩波電壓無(wú)法有效檢出電纜本體電樹枝及附件中的水樹枝，當(dāng)絕緣電阻偏低或三相絕緣電阻差別大時(shí)，可使用超低頻局放檢測(cè)及介損老化評(píng)價(jià)。
4. 五合一，可進(jìn)行VLF，TD，PD，DC，SFL五中測(cè)試質(zhì)量最輕。

在進(jìn)行電纜超低頻介損檢測(cè) 時(shí)，檢測(cè)頻率通常會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的度形成直接的影響 ，所以 ，要想精準(zhǔn)的對(duì)電纜介質(zhì)損 進(jìn)行檢測(cè) ，其中最主要的一項(xiàng)工作就是挑選適合的檢測(cè)頻率 。 在進(jìn)行檢測(cè)頻率確定時(shí)，應(yīng)依據(jù) 實(shí)際的檢測(cè) 法 、電纜類型以及引起介質(zhì)損耗的因素 來(lái)對(duì)檢測(cè) 頻率進(jìn)行確定 。

在檢測(cè)工作開始之前，應(yīng)保持受檢電纜處于停電狀態(tài)，將V-34/45/62-PD超低頻介損測(cè)試儀與高壓測(cè)量想相連接，然后將測(cè)量線與L1相連接，測(cè)試其介質(zhì)損耗，測(cè)試完成后，對(duì)其進(jìn)行放電；其次是L2、L3進(jìn)行測(cè)試，在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中除了被測(cè)相外，其他電纜終端機(jī)檢測(cè)設(shè)備的保護(hù)端子均保持接地。

在檢測(cè)實(shí)驗(yàn)流程中，應(yīng)最先對(duì)在間斷輸出電壓為0.5U0，頻率為0.1Hz的低頻電壓對(duì)受檢電纜進(jìn)行測(cè)試，每一次測(cè)試的間隔時(shí)間為10s，共測(cè)試8次，記錄每一次測(cè)試的tanδ數(shù)值，并對(duì)其均值、標(biāo)準(zhǔn)差及其變異系數(shù)進(jìn)行計(jì)算，由此來(lái)對(duì)電纜介質(zhì)損耗值及其穩(wěn)定性進(jìn)行判斷。待完成低頻電壓0.5U0測(cè)試后，將低頻電壓等級(jí)調(diào)整為1.0U0和1.5U0，并對(duì)其數(shù)據(jù)信息進(jìn)行計(jì)算并由此對(duì)電纜介質(zhì)損進(jìn)行明確。